Aplikasi Mikroskop Metalografik dalam Pelbagai Industri
Mikroskop metalografi pertama kali diperoleh daripada metalografi, dan tujuan utamanya adalah untuk memerhati instrumen profesional struktur metalografi. Ia adalah mikroskop yang khusus digunakan untuk memerhati struktur metalografi objek legap seperti logam dan mineral. Objek legap ini tidak boleh diperhatikan dalam mikroskop cahaya penghantaran biasa, jadi perbezaan utama antara metalografi dan mikroskop biasa ialah yang pertama diterangi oleh cahaya yang dipantulkan, manakala yang kedua diterangi oleh cahaya yang dihantar.
Mikroskopi metalografik mempunyai ciri-ciri kestabilan yang baik, pengimejan yang jelas, resolusi tinggi, dan bidang pandangan yang besar dan rata. Ia bukan sahaja boleh melakukan pemerhatian mikroskopik pada kanta mata, tetapi juga memerhati imej dinamik masa nyata pada skrin paparan komputer (kamera digital), dan boleh mengedit, menyimpan, dan mencetak imej yang diperlukan. Ia digunakan terutamanya dalam bidang seperti perkakasan, penghirisan, komponen IC, LCD/LED, dll.
Kerana terdapat lima jenis kanta untuk mikroskop metalografi: EPI pendarfluor medan terang; Medan terang dan gelap BD; SLWD jarak kerja ultra panjang; ELWD meningkatkan jarak kerja; Dengan cincin pembetulan. Dalam industri perkakasan, beberapa komponen perkakasan dengan pantulan teruk boleh diperhatikan menggunakan kanta objektif medan cahaya dan gelap BD. Sebagai contoh, dalam industri LCD, apabila memerhati dan mengukur zarah konduktif, mikroskop metalografi juga boleh dilengkapi dengan DIC untuk menjadikan objek kelihatan lebih tiga dimensi. Kerana ia dilengkapi dengan cahaya terpolarisasi, dua set penapis warna membentuk teknik pemerhatian mikroskopik cahaya terpolarisasi, yang mengubah arah laluan optik berdasarkan prestasi birefringence. Sudah tentu, cahaya terpolarisasi hanya boleh digunakan bersama DIC dan tidak mempunyai kepentingan sahaja. Mikroskopi metalografik digunakan untuk mengukur dan menganalisis dimensi kecil seperti komponen IC dan bahagian metalografik. Perisian pintar Iview-DIMS boleh digunakan untuk pengukuran, dengan ketepatan yang tinggi dan pengurangan ralat pengukuran manusia yang berkesan. Mudah dipelajari dan digunakan, ia boleh dengan mudah mengukur dan menganalisis dimensi yang berkaitan seperti titik, garisan, lengkok, separuh meridian, meridian lurus, sudut, dll. Ia mudah untuk mengambil gambar ukuran dan menyesuaikan pelbagai laporan ujian
