Perhatian harus diberikan kepada ciri-ciri bahan dalam penyelidikan mikroskopik
(1) Pelbagai skala struktur mikro bahan: Mikroskop Olympus tahap atom dan molekul, tahap kecacatan kristal seperti kehelan, tahap struktur mikro bijian, tahap mesostruktur, tahap makrostruktur, dll.;
(2) Ketidakhomogenan mikrostruktur bahan: mikrostruktur sebenar selalunya mempunyai ketidakhomogenan dalam geometri, ketidakhomogenan dalam komposisi kimia, dan ketidakhomogenan dalam sifat mikroskopik (seperti kekerasan mikro, potensi elektrokimia tempatan) jantina, dsb.;
(3) Arah struktur mikro bahan: termasuk anisotropi bentuk butiran, arah struktur pembesaran rendah, orientasi kristalografi, arah sifat makroskopik bahan, dsb., yang harus dianalisis dan dianalisis secara berasingan. perwakilan;
(4) Kebolehubahan struktur mikro bahan: perubahan dalam komposisi kimia, faktor luaran dan perubahan masa yang menyebabkan peralihan fasa dan evolusi mikrostruktur boleh membawa kepada perubahan dalam struktur mikro bahan. Sebagai tambahan kepada analisis kuantitatif, perhatian harus diberikan sama ada perlu untuk mengkaji proses peralihan fasa keadaan pepejal, kinetik evolusi struktur mikro dan mekanisme evolusi;
(5) Ciri-ciri fraktal yang mungkin bagi struktur mikro bahan dan ciri-ciri bergantung pada resolusi yang mungkin wujud dalam pemerhatian metalografik tertentu: ia boleh menyebabkan keputusan analisis kuantitatif struktur mikro sangat bergantung pada resolusi imej. Lebih banyak perhatian harus diberikan kepada perkara ini apabila menjalankan analisis kuantitatif morfologi tisu dan menyimpan dan memproses fail imej digital mikrostruktur;
(6) Had penyelidikan bukan kuantitatif terhadap struktur mikro bahan: Walaupun penyelidikan kualitatif mengenai struktur mikro dapat memenuhi keperluan kejuruteraan bahan, analisis dan penyelidikan sains bahan sentiasa perlu mengukur geometri struktur mikro. Penentuan dan analisis ralat hasil analisis kuantitatif yang diperolehi (ralat rawak, ralat sistematik, ralat kasar);
(7) Had keratan rentas struktur mikro bahan atau pemerhatian unjuran, dsb. Pemerhatian hakisan dalam struktur tiga dimensi grafit serpihan besi tuang dan perlit telah menunjukkan bahawa had tersebut boleh membawa kepada salah tafsiran imej keratan rentas atau unjuran. .
Perlu diingatkan bahawa prinsip dan hubungan stereologi yang berbeza mesti digunakan untuk imej keratan rentas (seperti metalografi optik dan imej SEM) dan imej unjuran (seperti imej TEM), dan analisis stereologi imej unjuran adalah lebih sukar[2]. ].
Untuk had (6) dan (7), goresan dalam, pemisahan butiran atau fasa kedua, radiografi, penglihatan stereo, mikroskop konfokal, mikroskopi daya atom, mikroskop ion medan, mikro-CT dan teknologi yang berkaitan , Pembinaan semula tisu tiga dimensi struktur daripada siri imej keratan rentas dan kaedah lain telah digunakan untuk pengimejan terus dan pemerhatian eksperimen bagi struktur mikro tiga dimensi bahan. Tetapi kebanyakannya hanya sesuai untuk kes yang sangat istimewa, atau beban kerja yang besar, atau mereka hanya boleh imej dan memerhati permukaan sampel. Antaranya, teknologi mikro-CT perindustrian sangat berkesan untuk ujian tidak merosakkan kecacatan bersaiz besar dengan perbezaan ketumpatan yang jelas di dalam bahan, dan mungkin menjadi arah penyelidikan dan pembangunan baru, tetapi resolusi untuk pemerhatian struktur mikro bahan masih perlu dilihat. Meningkat (pada masa ini resolusi tertingginya berada pada tahap mikron). Apabila mungkin untuk secara eksperimen mendapatkan satu siri imej metalografi keratan rentas, pembinaan semula 3D dan teknik simulasi komputer sangat membantu untuk pemerhatian langsung 3D. Juga, pemerhatian langsung tidak selalu bermaksud pengukuran langsung. Perlu diingat bahawa: dalam kes di mana visualisasi tiga dimensi organisasi bahan tidak dapat direalisasikan atau data pencirian kuantitatifnya tidak dapat diperolehi walaupun ia telah divisualisasikan, analisis stereologi boleh mendapatkan ukuran kuantitatif tidak berat sebelah bagi struktur tisu tiga dimensi pada kos yang kecil. Oleh itu, ia telah menjadi alat yang sangat diperlukan untuk analisis kuantitatif dan pencirian struktur mikro yang layak untuk dipromosikan.
Kemunculan berterusan dan penambahbaikan kaedah baharu untuk memperoleh, menyimpan dan menghantar imej struktur mikro bahan, serta kaedah pemprosesan dan analisis imej yang lebih baik, pembangunan berterusan dan mempopularkan prinsip stereologi dan teknik eksperimen, dan perkembangan pesat perkakasan komputer dan keupayaan perisian Kedua-duanya memberi peluang yang jarang berlaku untuk pembangunan dan aplikasi morfologi struktur mikro bahan daripada pencirian kualitatif kepada pencirian kuantitatif, daripada pemerhatian dua dimensi kepada ujian maklumat bentuk geometri tiga dimensi. Tahap automasi kaedah eksperimen yang tinggi dan pemerolehan mudah sejumlah besar data kuantitatif mikrostruktur juga telah membawa kepada lebih banyak kemungkinan untuk penyalahgunaan atau penggunaan tidak perlu beberapa kaedah eksperimen analisis imej lanjutan, yang tidak boleh tidak dinilai tinggi.
