Pengenalan ringkas ciri mikroskop siasatan
Pengimbasan mikroskop probe (SPM) adalah istilah umum untuk mengimbas mikroskop terowong dan pelbagai mikroskop probe baru yang dibangunkan berdasarkan mikroskop terowong mengimbas (seperti mikroskopi daya atom (AFM), mikroskopi daya laser (LFM), mikroskop daya magnetik (mfm), dan lain -lain. Ia adalah instrumen analisis permukaan yang dibangunkan di peringkat antarabangsa pada tahun -tahun kebelakangan ini. Ia adalah produk berteknologi tinggi yang mengintegrasikan cahaya, mesin, dan elektrik secara komprehensif menggunakan pencapaian saintifik dan teknologi moden seperti teknologi optoelektronik, teknologi laser, teknologi pengesanan isyarat yang lemah, reka bentuk dan pemprosesan mekanikal ketepatan, teknologi kawalan automatik, teknologi pemprosesan isyarat digital, teknologi optik yang digunakan, teknologi pemprosesan komputer yang tinggi, dan kawalan komputer yang tinggi, dan teknologi pemprosesan berkecepatan tinggi. Jenis alat mikroskopik baru ini mempunyai kelebihan yang ketara berbanding dengan mikroskop dan instrumen analisis sebelumnya:
1. SPM mempunyai resolusi yang sangat tinggi. Ia boleh dengan mudah 'melihat' atom, yang sukar untuk mikroskop biasa atau mikroskop elektron untuk dicapai.
2. SPM memperoleh imej-imej resolusi tinggi permukaan sampel yang benar-benar menunjukkan atom. Tidak seperti beberapa instrumen analisis yang mengira struktur permukaan sampel melalui kaedah tidak langsung atau pengiraan.
3. Persekitaran penggunaan SPM santai. Mikroskop elektron dan instrumen lain mempunyai keperluan yang ketat untuk persekitaran kerja, dan sampel mesti diletakkan di bawah keadaan vakum yang tinggi untuk ujian. SPM boleh bekerja dalam vakum, serta di atmosfera, suhu rendah, suhu bilik, suhu tinggi, dan juga dalam penyelesaian. Oleh itu, SPM sesuai untuk eksperimen saintifik dalam pelbagai persekitaran kerja.
