Fokus mendalam untuk rendaman dan mikroskop STED
Tumpuan mendalam bagi objektif NA tinggi menghasilkan PSF (fungsi penyebaran titik) yang lebih kecil, yang penting untuk sistem mikroskopi resolusi tinggi. Dalam kebanyakan sistem mikroskop yang lain, seperti mikroskop rendaman, slip penutup digunakan untuk memisahkan cecair rendaman daripada sampel. Ini boleh memesongkan PSF pada satah fokus. Kami menunjukkan bahawa PSF asimetri dipanjangkan lagi di belakang slip penutup. Di samping itu, mikroskop STED (Stimulated Emission Depletion), yang digunakan secara meluas dengan resolusi berpuluh-puluh nanometer, menggunakan PSF toroidal. Mengikuti pendekatan yang dicadangkan oleh P.Török dan PRT Monro, kami memodelkan pemfokusan mendalam bagi rasuk Gauss-Raggler. Menunjukkan cara menjana PSF pekeliling.
Fokus Mendalam dengan Mikroskop Rendaman NA Tinggi
Dalam VirtualLab Fusion, pengaruh antara muka coverslip pada PSF boleh dianalisis secara langsung. Herotan fokus di sebalik coverslip ditunjukkan dan dianalisis dalam cara vektor sepenuhnya.
Pemfokusan rasuk Gaussian-Laguerre dalam mikroskop STED
Telah ditunjukkan bahawa pemfokusan rasuk Gaussian-Laguerre tertib tinggi menghasilkan PSF berbentuk cincin. Saiz PSF anulus bergantung, antara pembolehubah lain, pada susunan rasuk tertentu.
