Fokus Mendalam untuk Perendaman dan Mikroskopi STED
Pemfokusan mendalam bagi objektif NA tinggi menghasilkan PSF (fungsi penyebaran titik) yang lebih kecil, yang penting untuk sistem mikroskopi resolusi tinggi. Dalam kebanyakan sistem mikroskop yang lain, seperti mikroskop rendaman, slip penutup digunakan untuk memisahkan cecair rendaman daripada sampel. Ini boleh memesongkan PSF pada satah fokus. Kami menunjukkan bahawa PSF asimetri dipanjangkan lagi di belakang slip penutup. Di samping itu, mikroskop STED (penyusutan pelepasan dirangsang), yang digunakan secara meluas pada resolusi berpuluh-puluh nanometer, menggunakan PSF anulus. Mengikut kaedah yang dicadangkan oleh P.Török dan PRT Monro, kami memodelkan pemfokusan mendalam bagi rasuk Gauss-Lagler. Menunjukkan cara menjana PSF toroidal.
Pemfokusan Dalam dengan Mikroskop Rendaman NA Tinggi
Dalam VirtualLab Fusion, kesan antara muka slip penutup pada PSF boleh dianalisis secara langsung. Ubah bentuk fokus di sebalik coverslip ditunjukkan dan dianalisis dengan cara tervektor sepenuhnya.
Pemfokusan rasuk Gaussian-Laguerre dalam mikroskop STED
Keputusan menunjukkan bahawa pemfokusan rasuk Gaussian-Laguerre peringkat tinggi menghasilkan PSF berbentuk cincin. Saiz PSF anulus bergantung, antara pembolehubah lain, pada susunan khusus rasuk.
