Perbezaan antara mikroskop elektron dan mikroskop metalurgi
Prinsip Mengimbas Mikroskop Elektron
Mikroskop elektron pengimbasan (SEM), disingkat SEM, ialah sistem kompleks yang memekatkan teknologi elektron-optik, teknologi vakum, mekanik halus, dan teknologi kawalan komputer moden. SEM ialah kesan voltan tinggi yang dipercepatkan daripada senapang elektron yang dipancarkan oleh elektron melalui penumpuan kanta elektromagnet berbilang peringkat ke dalam pancaran elektron yang kecil. Mengimbas dalam permukaan spesimen, pengujaan pelbagai maklumat, melalui penerimaan maklumat ini, amplifikasi dan pengimejan paparan, untuk menganalisis permukaan spesimen. Interaksi elektron kejadian dengan spesimen menghasilkan jenis maklumat yang ditunjukkan dalam Rajah 1. Taburan keamatan dua dimensi maklumat ini berbeza dengan ciri-ciri permukaan spesimen (ciri-ciri ini ialah morfologi permukaan, komposisi, orientasi kristal, sifat elektromagnet. , dsb.), adalah pelbagai pengesan untuk mengumpul maklumat dalam susunan, nisbah maklumat ditukar kepada isyarat video, dan kemudian dihantar ke pengimbasan serentak tiub gambar dan modulasi kecerahannya, anda boleh mendapat respons ke permukaan peta imbasan spesimen. Jika isyarat yang diterima oleh pengesan didigitalkan dan ditukar kepada isyarat digital, ia boleh diproses dan disimpan dengan lebih lanjut oleh komputer. Mikroskop elektron pengimbasan direka terutamanya untuk pemerhatian spesimen blok tebal dengan perbezaan ketinggian yang besar dan ketidaksamaan kasar, dan oleh itu direka untuk menyerlahkan kesan kedalaman medan, dan biasanya digunakan untuk menganalisis patah serta permukaan semula jadi yang tidak telah dirawat secara buatan.
Mikroskop elektron dan mikroskop metalurgi
Pertama, sumber cahaya adalah berbeza: mikroskop metalurgi menggunakan cahaya boleh dilihat sebagai sumber cahaya, mengimbas mikroskop elektron menggunakan pancaran elektron sebagai pengimejan sumber cahaya.
Kedua, prinsipnya berbeza: mikroskop metalurgi menggunakan prinsip pengimejan optik geometri untuk pengimejan, pengimbasan mikroskop elektron menggunakan pengeboman rasuk elektron bertenaga tinggi permukaan sampel, pengujaan pelbagai isyarat fizikal pada permukaan sampel, dan kemudian penggunaan pengesan isyarat yang berbeza untuk menerima isyarat fizikal yang ditukar kepada maklumat imej.
Ketiga, resolusi adalah berbeza: mikroskop metalurgi kerana gangguan dan pembelauan cahaya, resolusi hanya boleh dihadkan kepada 0.2-0.5um antara. Mengimbas mikroskop elektron kerana penggunaan pancaran elektron sebagai sumber cahaya, resolusi boleh mencapai antara 1-3nm, jadi pemerhatian tisu mikroskop metalurgi tergolong dalam analisis tahap mikron, pemerhatian tisu mikroskop elektron pengimbasan tergolong dalam tahap nanometer analisis.
Keempat, kedalaman medan adalah berbeza: kedalaman medan mikroskop metalurgi am antara 2-3um, jadi kelancaran permukaan sampel mempunyai tahap keperluan yang sangat tinggi, jadi proses pensampelannya agak rumit. Walaupun mikroskop elektron pengimbasan mempunyai kedalaman bidang yang besar, bidang pandangan yang besar, pengimejan yang kaya dengan deria tiga dimensi, boleh terus memerhati pelbagai spesimen struktur mikro permukaan tidak sekata.
