Perbezaan dalam aplikasi antara mikroskop metalografi tegak dan terbalik
Perbezaan antara tegak dan songsang hanyalah sampel tegak diletakkan di bawah dan sampel terbalik diletakkan di atas. Objektif tegak menghadap ke bawah, dan objektif terbalik menghadap ke atas.
Mikroskop metalografi terbalik, disebabkan oleh fakta bahawa permukaan pemerhatian sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja, dan objektif pemerhatian terletak di bawah meja kerja untuk pemerhatian ke atas, borang pemerhatian ini tidak terhad oleh ketinggian sampel. Semasa menyediakan sampel, hanya satu permukaan pemerhatian yang rata, jadi ia biasanya digunakan di makmal kilang, institusi penyelidikan saintifik, dan universiti untuk pengajaran. Asas mikroskop metalografi terbalik mempunyai kawasan sokongan yang besar, pusat graviti yang rendah, dan stabil dan boleh dipercayai. Kanta mata dan permukaan sokongan dicondongkan pada 45 darjah, menjadikan pemerhatian selesa.
Mikroskop metalografi tegak mempunyai fungsi asas yang sama seperti mikroskop metalografi terbalik. Selain menganalisis dan mengenal pasti sampel logam dengan ketinggian 20-30mm, ia lebih meluas digunakan dalam bahan lutsinar, separa lutsinar atau legap kerana ia mematuhi tabiat harian manusia. Mikroskop metalografi tegak membentuk imej positif semasa pemerhatian, yang membawa kemudahan besar kepada pemerhatian dan diskriminasi pengguna. Selain menganalisis dan mengenal pasti sampel logam dengan ketinggian 20-30mm, pemerhatian menyasarkan lebih besar daripada 3 mikron tetapi lebih kecil daripada 20 mikron, seperti struktur permukaan dan kesan bahan seperti cermet, cip elektronik, litar bercetak, Substrat LCD, filem nipis, gentian, objek berbutir, salutan, dsb., semuanya boleh mempunyai kesan pengimejan yang baik.
