Ciri-ciri Mikroskop Probe Mengimbas
Mikroskopi probe pengimbasan ialah mikroskop ketiga untuk memerhati struktur jirim pada skala atom selepas mikroskop ion medan dan mikroskop elektron penghantaran resolusi tinggi. Mengambil imbasan Mikroskop Terowong (STM) sebagai contoh, peleraian sisinya ialah 0.1~0.2nm, dan peleraian kedalaman menegaknya ialah 0.01nm. Resolusi sedemikian boleh memerhatikan dengan jelas atom tunggal atau molekul yang diedarkan pada permukaan sampel. Pada masa yang sama, mikroskop probe pengimbasan juga boleh menjalankan penyelidikan pemerhatian di udara, gas lain atau persekitaran cecair.
Mikroskop probe pengimbasan mempunyai ciri-ciri resolusi atom, pengangkutan atom, dan pemprosesan mikro nano. Walau bagaimanapun, disebabkan oleh prinsip kerja yang berbeza bagi pelbagai mikroskop pengimbasan secara terperinci, maklumat pada permukaan sampel yang dicerminkan oleh keputusan yang diperolehi oleh mereka adalah sangat berbeza. Mengimbas mikroskop terowong mengukur maklumat pengedaran stesen elektron pada permukaan sampel, yang mempunyai resolusi tahap atom tetapi masih tidak dapat memperoleh struktur sebenar sampel. Mikroskop atom mengesan maklumat interaksi antara atom, jadi maklumat susunan taburan atom pada permukaan sampel boleh diperolehi, iaitu struktur sebenar sampel. Tetapi sebaliknya, mikroskop daya atom tidak dapat mengukur maklumat keadaan elektronik yang boleh dibandingkan dengan teori, jadi kedua-duanya mempunyai kelebihan dan kekurangan mereka sendiri.
