Kaedah pengimejan Bright - medan dan gelap - medan dalam mikroskopi pendarfluor
(1) Kaedah pencitraan medan terang (BFI), yang hanya membolehkan rasuk elektron yang dihantar di rantau paraxial melewati aperture objektif, membentuk imej gelap pada latar belakang yang cerah. Semakin kecil aperture aperture objektif, semakin besar kontras imej medan terang; (2) Pencitraan medan gelap (DFI) adalah teknik yang hanya membolehkan sebahagian daripada rasuk bertaburan sudut besar atau rasuk difraksi tertentu kristal untuk melewati aperture objektif, sambil menyekat rasuk yang dihantar. Ini membentuk imej grafik yang cerah pada latar belakang yang gelap. Kaedah pengimejan medan gelap ini dapat meningkatkan kontras imej dan merupakan teknik pengimejan yang penting.
Terdapat kira -kira empat kaedah untuk mencapai imej medan gelap menggunakan mikroskop pendarfluor Leica: (1) mengekalkan pencahayaan menegak di sepanjang paksi optik sambil menggerakkan aperture objektif; (2) penggunaan pencahayaan serong untuk menangkap rasuk bertaburan ke arah paksi optik dipanggil pengimejan medan gelap pusat (CDFI); (3) aperture objektif dengan perhentian rasuk pusat dan kawasan telus bulat; (4) Gunakan kanta kondensor telus bulat untuk penderiaan cahaya dan aperture bulat pusat untuk lensa objektif. Kaedah * di sini adalah yang paling mudah, tetapi ia menggunakan pengimejan elektronik di kawasan lengan distal, jadi penyimpangan besar dan kualiti imej tidak begitu baik. Kaedah kedua boleh mengelakkan kelemahan di atas, tetapi aperture objektif mikroskop Leica hanya menerima sebahagian kecil daripada elektron yang bertaburan yang bertaburan, mengakibatkan kecekapan yang lebih rendah. Bahagian aperture sering tertakluk kepada sejumlah besar pengeboman elektron, yang dapat dengan mudah menyebabkan pencemaran asimetrik dan mempengaruhi kualiti imej. Kanta objektif anulus telah diperbaiki dalam aspek ini, tetapi kelemahannya adalah sukar untuk dihasilkan dan sukar untuk mencapai simetri paksi lengkap. Memandangkan keperluan yang agak santai untuk sistem pencahayaan, penyelesaian terakhir boleh diterima pakai, yang melibatkan menambah aperture anulus di kondensor untuk menyediakan pencahayaan rasuk berongga untuk sampel. Kesan peranti ini. Resolusi imejnya boleh dekat dengan imej medan yang terang, sementara kontrasnya sangat bertambah baik.
