Pengenalan kepada Ciri Mikroskop Probe Mengimbas
Scanning Probe Microscope (Scanning Probe Microscope, SPM) ialah mikroskop terowong pengimbasan dan dalam mikroskop terowong pengimbasan berdasarkan pembangunan pelbagai mikroskop probe baharu (mikroskop kuasa atom AFM, mikroskop daya laser LFM, mikroskop daya magnet MFM dan seterusnya) secara kolektif, adalah pembangunan antarabangsa permukaan instrumen analisis dalam beberapa tahun kebelakangan ini, adalah penggunaan komprehensif teknologi Optoelektronik, teknologi laser, teknologi pengesanan isyarat lemah, reka bentuk dan pemprosesan mekanikal ketepatan, teknologi kawalan automatik, teknologi pemprosesan isyarat digital , teknologi optik gunaan, pemerolehan dan kawalan berkelajuan tinggi komputer dan teknologi pemprosesan grafik resolusi tinggi dan pencapaian saintifik dan teknologi moden yang lain bagi penyepaduan optik, mekanikal dan elektrik produk berteknologi tinggi. Alat mikroskopik jenis baharu ini mempunyai kelebihan yang jelas berbanding dengan pelbagai mikroskop dan instrumen analisis pada masa lalu:
1, SPM mempunyai resolusi yang sangat tinggi. Ia boleh "melihat" atom dengan mudah, yang sukar untuk mencapai mikroskop umum dan juga mikroskop elektron.
2, SPM adalah masa nyata, permukaan sampel sebenar imej resolusi tinggi, benar-benar melihat atom. Tidak seperti beberapa instrumen analisis, struktur permukaan sampel disimpulkan dengan kaedah tidak langsung atau pengiraan.
3,SPM digunakan dalam persekitaran yang santai. Mikroskop elektron dan instrumen lain mengenai keperluan persekitaran kerja yang lebih menuntut, sampel mesti diletakkan dalam keadaan vakum yang tinggi untuk menguji. SPM boleh bekerja dalam vakum, tetapi juga dalam atmosfera, suhu rendah, suhu bilik, suhu tinggi, dan juga dalam larutan. Oleh itu, SPM sesuai untuk eksperimen saintifik dalam pelbagai persekitaran kerja.
