Pengenalan kepada perbezaan antara mikroskop metalografi dan stereomikroskop dalam tiga aspek
1. Sistem laluan pencahayaan:
Mikroskop metalografik umumnya mempunyai laluan pencahayaan cahaya reflektif khusus (kerana sampel yang diperhatikan adalah legap), dan cahaya pencahayaan melalui kanta separa reflektif dan kemudian disinari ke permukaan sampel melalui kanta objektif. Selepas dipantulkan kembali, ia melalui kanta objektif dan kanta mata sebelum diimej di mata manusia. Oleh itu, kanta objektif menggantikan kanta pemeluwap dalam sistem pencahayaan Kohler. Pada dasarnya, jenis pencahayaan ini tergolong dalam pencahayaan sepaksi, di mana cahaya yang diterangi dan cahaya yang dipantulkan berada dalam laluan optik utama yang sama.
Mikroskop stereoskopik biasanya menggunakan sumber cahaya luaran, termasuk lampu halogen sisi untuk pencahayaan serong dan lampu LED bulat untuk pencahayaan. Walau bagaimanapun, kaedah pencahayaan ini bukan pencahayaan sepaksi, dan pencahayaannya adalah serong dari sisi, dengan sudut tertentu dengan paksi optik utama. Pada dasarnya, ia serupa dengan pencahayaan medan gelap mikroskop metalografi. Selain itu, sesetengah stereomikroskop juga mempunyai sumber pencahayaan sepaksi, tetapi pencahayaan sepaksi dalam stereomikroskop mempunyai batasan tertentu. Reka bentuk yang tidak betul boleh menyebabkan silau, yang memerlukan penambahan aksesori atau kanta khas untuk menghilangkannya.
2. Bingkai mikroskop dan mekanisme pemfokusan?
Bingkai mikroskop metalografi umumnya agak besar, tetapi kerana ia digunakan untuk pemeriksaan berkuasa tinggi, ia boleh meletakkan sampel dengan saiz yang agak kecil. Secara amnya, permukaan sampel dikehendaki agak rata, dan penyediaan sampel, penggilapan dan kakisan diperlukan. Dalam hal ini, kecuali untuk mikroskop metalografi terbalik, walaupun penyediaan sampel juga diperlukan, ia hampir tidak mempunyai sekatan pada saiz sampel. Mikroskop metalografi terbalik yang baik boleh meletakkan sampel seberat kira-kira 10 kilogram. Di samping itu, mekanisme pemfokusan mikroskop metalografi tegak ialah peringkat mengangkat (terdapat juga beberapa mikroskop tegak dan mikroskop pengukur yang menggunakan lampiran khas untuk mengangkat objektif), manakala mekanisme pemfokusan metalografi terbalik ialah objektif mengangkat.
Saiz bingkai mikroskop stereo biasanya kecil, tetapi jika digabungkan dengan bingkai bergerak bersaiz besar, ia boleh memeriksa sampel saiz yang berbeza, termasuk memeriksa produk secara langsung pada barisan pengeluaran. Oleh itu, ia mempunyai keperluan yang rendah untuk sampel dan tidak memerlukan penyediaan sampel khusus. Selagi permukaan sampel kira-kira rata, ia adalah mencukupi. Oleh kerana stereoskop agak ringan, kaedah pemfokusan stereomikroskop secara amnya adalah untuk mengangkat dan menurunkan keseluruhan laluan optik hos.
