Teknik pengukuran (kecuali dinyatakan sebaliknya, ia merujuk kepada penggunaan meter analog)
1. Penceramah ujian, fon kepala, dan mikrofon dinamik: Gunakan mod R × 1 Ω, sambungkan satu siasatan ke satu hujung, dan sentuh probe yang lain ke hujung yang lain. Di bawah keadaan biasa, bunyi "klik" yang segar akan dipancarkan. Jika ia tidak membuat bunyi, itu bermakna gegelung rosak. Jika bunyi kecil dan tajam, ini bermakna terdapat masalah dengan mengelap gegelung dan ia tidak boleh digunakan.
2. Ukur kapasitans: Gunakan mod rintangan untuk memilih julat yang sesuai mengikut kapasitans, dan perhatikan untuk menghubungkan probe hitam kapasitor elektrolitik ke elektrod positif kapasitor semasa pengukuran. ① Menganggarkan kapasiti kapasitor gelombang mikro: Ia boleh ditentukan berdasarkan pengalaman atau dengan merujuk kepada kapasitor standard kapasiti yang sama, berdasarkan magnitud ayunan penunjuk. Kapasiti yang dirujuk tidak perlu mempunyai nilai voltan yang sama, selagi kapasitansi adalah sama. Sebagai contoh, menganggarkan kapasitans 100 μ f/250V boleh dirujuk dengan kapasitans 100 μ f/25V. Selagi penunjuk mereka berubah * oleh magnitud yang sama, dapat disimpulkan bahawa kapasitans adalah sama. ② Menganggarkan saiz kapasitans kapasitor tahap PIFA: Perlu menggunakan julat R × 10k Ω, tetapi hanya kapasitor di atas 1000pf dapat diukur. Untuk kapasitor 1000pf atau sedikit lebih besar, selagi penunjuk sedikit berubah, ia boleh dipertimbangkan bahawa kapasiti mencukupi. ③ Ukur sama ada kapasitor bocor: Untuk kapasitor di atas 1000 mikrofarad, mereka boleh dengan cepat dikenakan menggunakan julat R × 10 Ω, dan kapasitans boleh dianggarkan pada mulanya. Kemudian, beralih ke julat R × 1k Ω dan teruskan mengukur seketika. Pada ketika ini, penunjuk tidak boleh kembali, tetapi harus berhenti di atau sangat dekat dengan ∞, jika tidak ada fenomena kebocoran. Bagi sesetengah masa atau kapasitor berayun di bawah puluhan mikrofarad (seperti kapasitor berayun dalam bekalan kuasa TV warna), ciri -ciri kebocoran sangat tinggi. Selagi terdapat kebocoran sedikit, mereka tidak boleh digunakan. Pada masa ini, mereka boleh dikenakan bayaran dalam julat R × 1k Ω dan kemudian beralih ke julat R × 10k Ω untuk terus mengukur. Begitu juga, penunjuk harus berhenti di ∞ dan tidak boleh kembali.
3. Dalam ujian jalan diod, transistor, dan pengawal selia voltan: kerana dalam litar sebenar, rintangan bias transistor atau rintangan periferal diod dan pengawal voltan umumnya besar, kebanyakannya dalam ratusan atau ribuan ohm. Oleh itu, kita boleh menggunakan R × 10 Ω atau R × 1 Ω multimeter untuk mengukur kualiti persimpangan PN di jalan raya. Apabila mengukur di jalan raya, persimpangan PN harus mempunyai ciri -ciri ke hadapan dan terbalik yang jelas apabila diukur dalam julat R × 10 Ω (jika perbezaan rintangan ke hadapan dan terbalik tidak signifikan, julat R × 1 Ω boleh digunakan untuk pengukuran). Secara amnya, rintangan ke hadapan harus menunjukkan sekitar 200 Ω apabila diukur dalam julat R × 10 Ω, dan sekitar 30 Ω apabila diukur dalam julat R × 1 Ω (mungkin terdapat sedikit perbezaan bergantung pada fenotip yang berbeza). Jika hasil pengukuran menunjukkan bahawa rintangan ke hadapan terlalu tinggi atau rintangan terbalik terlalu rendah, ia menunjukkan bahawa terdapat masalah dengan persimpangan PN, dan tiub juga bermasalah. Kaedah ini amat berkesan untuk penyelenggaraan, kerana ia dapat dengan cepat mengenal pasti paip yang rosak dan juga mengesan paip yang tidak dipecahkan sepenuhnya tetapi mempunyai ciri -ciri yang merosot. Sebagai contoh, apabila anda mengukur rintangan ke hadapan persimpangan PN dengan julat rintangan yang rendah dan terlalu tinggi, jika anda menyoldernya dan mengukurnya semula dengan julat R × 1k Ω yang biasa digunakan, ia mungkin masih normal. Malah, ciri -ciri tiub ini telah merosot dan ia tidak boleh berfungsi dengan betul atau tidak stabil.
