Kaedah mengukur kualiti transistor dengan multimeter
Pertama, sambungkan multimeter ke terminal diod ujian. Gunakan siasatan merah multimeter untuk menyentuh salah satu pin transistor, dan gunakan probe lain multimeter untuk menguji pin yang tinggal sehingga hasil berikut diperolehi:
1. Jika siasatan hitam transistor disambungkan ke salah satu pinnya dan dua pin yang lain kedua -duanya menjalankan dengan paparan voltan apabila diukur dengan probe merah, maka transistor ini adalah transistor PNP, dan pin yang disambungkan ke probe hitam adalah asas B transistor. Apabila diuji menggunakan kaedah di atas, jika voltan probe merah multimeter yang disambungkan ke salah satu pinnya sedikit lebih tinggi, maka pin ini adalah pemancar e transistor, dan baki pin dengan voltan yang lebih rendah adalah pemungut C.
2 Jika siasatan merah transistor disambungkan ke salah satu pinnya dan dua pin yang lain kedua -duanya menjalankan dengan paparan voltan apabila diukur dengan probe hitam, maka transistor ini adalah transistor NPN, dan pin yang disambungkan ke probe merah adalah asas b transistor. Apabila diuji menggunakan kaedah di atas, jika voltan probe hitam multimeter yang disambungkan ke salah satu pinnya sedikit lebih tinggi, maka pin ini adalah pemancar e transistor, dan baki pin dengan voltan yang lebih rendah adalah pemungut C.
Kaedah lain ialah menggunakan gear HFE untuk penghakiman. Selepas menentukan jenis dan transistor jenis transistor, masukkan pangkal transistor ke dalam lubang pengukuran nilai LU mengikut kedudukan asas dan jenis transistor, dan masukkan dua pin yang lain ke dalam mana -mana dua lagi tiga lubang pengukuran. Perhatikan saiz data pada skrin paparan, cari pemungut dan pemancar transistor, kedudukan pertukaran, dan kemudian ukur lagi. Perhatikan nilai pada skrin paparan, ulangi pengukuran empat kali, dan bandingkan dan perhatikan. Nilai maksimum yang diukur ialah faktor penguatan semasa transistor, yang sepadan dengan elektrod pemungut dan pemancar transistor.
