Pilihan pencahayaan mikroskop
Sebagai tambahan kepada model manual, mikroskop juga boleh dipilih dari siri lampu universal elektrik baru. Lampu lampu LED putih sesuai untuk pemerhatian medan yang cerah, dan pengguna boleh memilih antara lampu halogen 12v50w atau sumber cahaya LED putih mengikut tujuan pemerhatian dan kerja mereka.
Mikroskop LV-UEP1 dilengkapi dengan peranti pencahayaan kejatuhan sejagat, yang juga boleh melakukan bidang terang, medan gelap, polarisasi mudah, dan pemerhatian DIC. Apabila beralih dari pemerhatian medan terang ke pemerhatian lapangan gelap, perlawanan pencahayaan secara automatik akan membuka bidang pandangan dan berhenti apertur. Apabila kembali ke medan yang terang, perlawanan pencahayaan secara automatik mengembalikan medan pandangan dan keadaan apertur sebelumnya.
Peranti pencahayaan epifluoresensi mikroskop LV-UEP2 boleh melakukan pemerhatian epifluoresensi sebagai tambahan kepada medan terang, medan gelap, polarisasi mudah, dan DIC. Struktur hubungan antara perlawanan pencahayaan dan pengatup, medan pandangan, dan aperture berhenti secara automatik menetapkan keadaan pencahayaan yang optimum. Ciri ini sangat mengurangkan kerumitan mengendalikan mikroskop pengukur, menjadikannya lebih mudah bagi pengguna untuk menumpukan perhatian mereka pada pemerhatian.
Mikroskop LV-UEP1 FA dilengkapi dengan mekanisme FA Autofocus yang dibantu oleh prisma untuk pengukuran paksi z yang lebih baik.
Sediakan pelbagai peringkat khusus dan platen untuk siri metallographic mikroskop
Kerja -kerja kerja yang kita ukur dengan mikroskop berbeza -beza di kilang -kilang yang berbeza, termasuk bahan kerja besar dan kecil, jadi peringkat mikroskop dan platform juga perlu mempunyai saiz yang berbeza.
Mikroskop menyediakan pelbagai peringkat dan platform sokongan yang direka khusus untuk mikroskop logam: tahap 100 * 100mm; Dulang wafer yang mampu memuatkan 3/4- inci cip inci; Tahap super besar yang mampu menggunakan lembaran kaca pemerhatian cahaya telus.
Ciri reka bentuk mikroskop U 0 SVRM/U-SVLM Peringkat adalah bahawa panduan rak X-arah tidak menonjol ke luar. Tahap yang memenuhi keperluan ergonomik dilengkapi dengan lekapan slaid, yang paling sesuai untuk mengamati saiz slaid standard. 76 * 50mm Plat nipis, sesuai untuk spesimen yang lebih besar.
