Prinsip Komposisi Mikroskop Elektron
Mikroskop elektron terdiri daripada tiga bahagian: tong cermin, sistem vakum dan kabinet kuasa. Tong kanta terutamanya mempunyai pistol elektron, kanta elektron, pemegang sampel, skrin pendarfluor dan mekanisme kamera dan komponen lain, komponen ini biasanya dipasang dari atas ke bawah ke dalam lajur; sistem vakum terdiri daripada pam vakum mekanikal, pam resapan dan injap vakum, dan melalui paip pam yang disambungkan dengan tong kanta; kabinet bekalan kuasa terdiri daripada penjana voltan tinggi, pengatur arus pengujaan dan pelbagai unit kawalan pengawalseliaan.
Kanta elektron adalah bahagian yang paling penting dalam laras mikroskop elektron, ia adalah simetri kepada paksi laras medan elektrik ruang atau medan magnet supaya jejak elektron ke paksi pembentukan memfokuskan peranan kaca. kanta cembung untuk membuat peranan pancaran cahaya memfokus adalah serupa dengan peranan kaca, jadi ia dipanggil kanta elektron. Kebanyakan mikroskop elektron moden menggunakan kanta elektromagnet, dengan arus pengujaan DC yang sangat stabil melalui gegelung dengan kasut tiang yang dihasilkan oleh medan magnet yang kuat untuk memfokuskan elektron.
Pistol elektron adalah komponen yang terdiri daripada katod panas tungsten, pintu gerbang dan katod. Ia memancarkan dan membentuk pancaran elektron dengan halaju seragam, jadi kestabilan voltan pecutan diperlukan tidak kurang daripada satu bahagian dalam sepuluh ribu.
Mikroskop elektron boleh dibahagikan kepada mikroskop elektron penghantaran, mikroskop elektron pengimbasan, mikroskop elektron pantulan dan mikroskop elektron pelepasan mengikut struktur dan penggunaannya. Mikroskop elektron penghantaran sering digunakan untuk memerhatikan mereka yang mempunyai mikroskop biasa tidak dapat membezakan struktur halus bahan; pengimbasan mikroskop elektron digunakan terutamanya untuk memerhatikan morfologi permukaan pepejal, tetapi juga dengan difraktometer sinar-X atau spektrometer elektron digabungkan untuk membentuk mikro elektron yang dibentuk oleh sampel atom kepada penyebaran rasuk elektron. Bahagian sampel yang lebih nipis atau kurang tumpat mempunyai kurang serakan pancaran elektron, supaya lebih banyak elektron melalui bar cahaya kanta objektif dan mengambil bahagian dalam pengimejan, kelihatan lebih cerah dalam imej. Sebaliknya, bahagian sampel yang lebih tebal atau lebih padat kelihatan lebih gelap dalam imej. Jika sampel terlalu tebal atau padat, kontras imej merosot malah boleh rosak atau musnah dengan menyerap tenaga daripada pancaran elektron.
Kegunaan Mikroskop Elektron
Mikroskop elektron boleh dibahagikan kepada mikroskop elektron penghantaran, mikroskop elektron pengimbasan, mikroskop elektron pantulan dan mikroskop elektron pelepasan mengikut struktur dan penggunaannya. Mikroskop elektron penghantaran sering digunakan untuk memerhatikan mereka yang mempunyai mikroskop biasa tidak dapat membezakan struktur halus bahan; pengimbasan mikroskop elektron digunakan terutamanya untuk memerhati morfologi permukaan pepejal, tetapi juga dengan difraktometer sinar-X atau spektrometer elektron digabungkan untuk membentuk mikroprob elektron, digunakan untuk analisis komposisi bahan; mikroskop elektron pelepasan untuk kajian permukaan pelepasan diri elektron.
