Prinsip mikroskop optik medan dekat mikroskop optik medan dekat
The traditional optical microscope consists of optical lenses that can magnify an object up to thousands of times to observe the details. Due to the diffraction effect of light waves, an infinite increase in magnification is not possible because the obstacle of the diffraction limit of light waves will be encountered, and the resolution of the traditional optical microscope cannot be more than half of the wavelength of light. For example, with a wavelength of λ = 400nm of green light as a light source, can only distinguish between two objects that are 200nm apart. In practice λ>400nm, the resolution is somewhat lower. This is due to the fact that optical observation in general is made at a great distance from the object (>>λ).
Mikroskopi optik medan dekat, berdasarkan prinsip penyelidikan dan pengimejan medan bukan sinaran, mampu menembusi had pembelauan yang mana mikroskop optik biasa dikenakan, membolehkan pengimejan optik skala nano dan kajian spektroskopi skala nano dijalankan pada ultra- resolusi optik yang tinggi.
Mikroskop optik medan dekat terdiri daripada probe, peranti penghantaran isyarat, kawalan imbasan, pemprosesan isyarat dan sistem maklum balas isyarat. Penjanaan medan dekat dan prinsip pengesanan: penyinaran cahaya kejadian ke permukaan objek dengan banyak mikrostruktur kecil, struktur mikro ini dalam peranan medan cahaya kejadian, gelombang pantulan yang terhasil mengandungi gelombang tiba-tiba terhad pada permukaan objek dan penyebaran ombak ke kejauhan. Gelombang mendadak datang daripada struktur halus dalam objek (objek lebih kecil daripada panjang gelombang). Gelombang perambatan berasal dari struktur kasar objek (objek yang lebih besar daripada panjang gelombang) yang tidak mengandungi sebarang maklumat tentang struktur halus objek. Jika pusat serakan yang sangat kecil digunakan sebagai pengesan nano (cth probe), diletakkan cukup dekat dengan permukaan objek untuk merangsang gelombang pantas, menyebabkan ia mengeluarkan cahaya semula. Cahaya yang dihasilkan oleh pengujaan ini juga mengandungi gelombang pantas yang tidak dapat dikesan dan gelombang penyebaran yang boleh disebarkan ke pengesanan jauh, dan proses ini melengkapkan pengesanan medan berhampiran. Peralihan antara medan pantas dan medan penyebaran adalah linear, dan medan penyebaran dengan tepat mencerminkan perubahan dalam medan tersembunyi. Jika pusat serakan digunakan untuk mengimbas permukaan objek, imej dua dimensi boleh diperolehi. Mengikut prinsip timbal balik, peranan sumber cahaya penyinaran dan pengesan nano ditukar antara satu sama lain, dan sampel disinari dengan sumber cahaya nano (medan mendadak), dan disebabkan oleh penyebaran medan penyinaran oleh struktur halus objek, gelombang mendadak ditukar menjadi gelombang perambatan yang boleh dikesan pada jarak jauh, dan hasilnya adalah sama.
Mikroskopi optik medan dekat terdiri daripada pengimbasan titik demi titik dan rakaman titik demi titik oleh probe pada permukaan sampel diikuti dengan pengimejan digital. Rajah 1 menunjukkan skema pengimejan mikroskop optik medan dekat. Dalam rajah, kaedah penghampiran kasar xyz boleh melaraskan jarak dari probe ke sampel dengan ketepatan berpuluh-puluh nanometer; manakala imbasan xy dan kawalan z boleh digunakan dengan ketepatan 1nm untuk mengawal imbasan probe dan maklum balas arah z mengikut. Laser kejadian, ditunjukkan dalam rajah, dimasukkan ke dalam probe melalui gentian optik, dan keadaan polarisasi cahaya kejadian boleh diubah mengikut keperluan. Apabila laser kejadian menyinari sampel, pengesan boleh mengumpul secara berasingan isyarat penghantaran dan pantulan yang dimodulasi oleh sampel dan dikuatkan oleh tiub photomultiplier, dan kemudian secara langsung oleh penukar analog-ke-digital melalui pemerolehan komputer atau melalui sistem spektroskopi ke dalam spektrometer untuk mendapatkan maklumat spektrum. Kawalan sistem, pemerolehan data, paparan imej dan pemprosesan data diselesaikan oleh komputer. Daripada proses pengimejan di atas, dapat dilihat bahawa mikroskop optik medan dekat secara serentak boleh mengumpul tiga jenis maklumat, iaitu, morfologi permukaan sampel, isyarat optik medan dekat dan isyarat spektrum.
