Mengimbas mikroskop elektron dan mikroskop metalografi "bersama-sama tetapi dalam cara yang berbeza"
Mikroskop elektron pengimbasan dan mikroskop metalografi adalah kedua-dua instrumen optik. Ramai orang suka menggunakan mikroskop metalografi sebagai mikroskop elektron pengimbasan, tetapi terdapat perbezaan besar antara mereka. Penggunaan yang salah hanya akan membebankan peralatan dan mempercepatkan penggunaan mikroskop metalografi.
1. Pertama sekali, prinsipnya berbeza: mikroskop metalografi menggunakan prinsip pengimejan optik geometri untuk melakukan pengimejan, manakala mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pelbagai isyarat fizikal yang teruja oleh rasuk elektron tertumpu halus semasa mengimbas permukaan sampel untuk memodulasi pengimejan. Permukaan sampel dihujani dengan pancaran elektron bertenaga tinggi, dan pelbagai isyarat fizikal teruja pada permukaan sampel. Pengesan isyarat yang berbeza digunakan untuk menerima isyarat fizikal dan kemudian menukarnya kepada maklumat imej.
2. Kedua, sumber cahaya adalah berbeza: mikroskop metalografi menggunakan cahaya nampak sebagai sumber cahaya untuk pengimejan, manakala mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya untuk pengimejan.
3. Peleraian yang berbeza: Mikroskop metalurgi tertakluk kepada gangguan dan pembelauan cahaya yang boleh dilihat, dan peleraian hanya boleh dihadkan kepada 0.2-0.5um. Memandangkan mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya, resolusinya boleh mencapai antara 1-3nm. Oleh itu, pemerhatian tisu di bawah mikroskop metalografi adalah analisis peringkat mikron, manakala pemerhatian tisu di bawah mikroskop elektron pengimbasan adalah analisis peringkat nano. Maklumat sampel yang diperolehi oleh mikroskop elektron pengimbasan adalah lebih kaya. .
4. Kedalaman medan yang berbeza: Secara amnya, kedalaman medan mikroskop metalografi adalah antara 2-3um, jadi ia mempunyai keperluan yang sangat tinggi untuk kelicinan permukaan sampel, jadi proses penyediaan sampel agak rumit. Kedalaman medan mikroskop elektron pengimbasan adalah beratus-ratus kali ganda daripada mikroskop metalografi. Walau bagaimanapun, disebabkan oleh batasan prinsip pengimejannya, permukaan sampel mestilah konduktif, jadi permukaan sampel mestilah konduktif.
Berbanding dengan mikroskop metalografik, mikroskop elektron pengimbasan mempunyai julat pembesaran boleh laras yang luas, resolusi imej yang tinggi, kedalaman medan yang besar, imej tiga dimensi yang kaya, dan boleh mendapatkan maklumat sampel yang lebih kaya. Aplikasi mereka lebih mendalam dan lebih luas daripada mikroskop metalografik.
