Mengimbas prinsip dan struktur mikroskop probe
Prinsip kerja asas mikroskop probe pengimbasan adalah menggunakan interaksi antara probe dan atom permukaan sampel dan molekul, iaitu, apabila probe dan permukaan sampel berhampiran dengan skala nanometer apabila pembentukan pelbagai medan fizikal yang berinteraksi, melalui pengesanan kuantiti fizik yang sepadan dan dapatkan topografi permukaan sampel. Mikroskop probe pengimbasan terdiri daripada 5 bahagian: probe, pengimbas, sensor anjakan, pengawal, sistem pengesanan dan sistem imej.
Pengawal melalui pengimbas secara menegak dari arah menggerakkan sampel untuk menstabilkan jarak antara probe dan sampel (atau kuantiti fizikal interaksi) dalam nilai tetap; pada masa yang sama dalam satah mendatar xy untuk menggerakkan sampel, supaya siasatan mengikut laluan imbasan untuk mengimbas permukaan sampel. Mengimbas mikroskop probe dalam kes menstabilkan jarak antara probe dan sampel, sistem pengesanan mengesan isyarat interaksi antara probe dan sampel; dalam kes menstabilkan kuantiti fizikal interaksi, jarak antara probe dan sampel dikesan oleh sensor anjakan dalam arah menegak. Sistem imej adalah berdasarkan isyarat pengesanan (atau jarak antara probe dan sampel) pada permukaan sampel untuk pengimejan dan pemprosesan imej lain.
Bergantung pada medan fizikal interaksi antara probe dan sampel, mikroskop probe pengimbasan dibahagikan kepada keluarga mikroskop yang berbeza. Dua daripada jenis mikroskop probe pengimbasan yang lebih biasa digunakan ialah mikroskop terowong pengimbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Mikroskopi Terowong Mengimbas digunakan untuk memeriksa struktur permukaan sampel dengan mengesan magnitud arus terowong antara probe dan sampel yang diuji. AFM mengesan permukaan sampel dengan mengesan ubah bentuk julur mikro yang disebabkan oleh daya interaksi antara hujung probe dan sampel (sama ada menarik atau menolak) melalui penggunaan sensor anjakan fotoelektrik.
