Beberapa perbezaan antara mikroskop elektron pengimbasan dan mikroskop metalografik
Dalam eksperimen analisis bahan, kami sering menggunakan mikroskop elektron pengimbasan dan mikroskop metalografik. Apakah perbezaan dalam penggunaan kedua-dua peranti ini? Ujian Tianzong (SKYALBS) telah meringkaskan beberapa maklumat di sini untuk rujukan dan berkongsi dengan semua orang.
Mikroskop metalurgi ialah mikroskop yang menggunakan pencahayaan kejadian untuk memerhati permukaan (struktur logam) sampel logam. Ia dibangunkan dengan menggabungkan sempurna teknologi mikroskop optik, teknologi penukaran fotoelektrik, dan teknologi pemprosesan imej komputer. Produk berteknologi tinggi yang boleh memerhati imej metalografik pada komputer dengan mudah, dengan itu menganalisis, menilai dan mengeluarkan dan mencetak imej.
Scanning electron microscopy (SEM) ialah kaedah pemerhatian morfologi mikroskopik antara mikroskop elektron penghantaran dan mikroskop optik. Ia boleh terus menggunakan sifat bahan bahan permukaan sampel untuk pengimejan mikroskopik. Pengimejan isyarat elektron sekunder digunakan terutamanya untuk memerhati morfologi permukaan sampel, iaitu, rasuk elektron yang sangat sempit digunakan untuk mengimbas sampel, dan pelbagai kesan dihasilkan melalui interaksi antara rasuk elektron dan sampel, yang utama. sebagai pelepasan elektron sekunder sampel. Elektron sekunder boleh menghasilkan imej topografi permukaan sampel yang diperbesarkan. Imej ini ditubuhkan dalam urutan masa apabila sampel diimbas, iaitu imej yang diperbesarkan diperoleh menggunakan pengimejan titik demi titik.
Perbezaan utama antara kedua-dua mikroskop adalah seperti berikut:
1. Sumber cahaya yang berbeza: Mikroskop metalografi menggunakan cahaya yang boleh dilihat sebagai sumber cahaya, dan mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya untuk pengimejan.
2. Prinsip yang berbeza: Mikroskop metalografi menggunakan prinsip pengimejan optik geometri untuk melakukan pengimejan, manakala mikroskop elektron pengimbasan menggunakan rasuk elektron bertenaga tinggi untuk membedil permukaan sampel untuk merangsang pelbagai isyarat fizikal pada permukaan sampel, dan kemudian menggunakan pengesan isyarat yang berbeza untuk menerima isyarat fizikal dan menukarkannya kepada imej. maklumat.
3. Peleraian yang berbeza: Disebabkan oleh gangguan dan pembelauan cahaya, resolusi mikroskop metalografi hanya boleh dihadkan kepada 0.2-0.5um. Oleh kerana mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya, resolusinya boleh mencapai antara 1-3nm. Oleh itu, pemerhatian tisu di bawah mikroskop metalografi tergolong dalam analisis peringkat mikron, manakala pemerhatian tisu di bawah mikroskop elektron pengimbasan tergolong dalam analisis peringkat nano.
4. Kedalaman medan yang berbeza: Secara amnya, kedalaman medan mikroskop metalografi adalah antara 2-3um, jadi ia mempunyai keperluan yang sangat tinggi untuk kelicinan permukaan sampel, jadi proses penyediaan sampelnya agak rumit. Mikroskop elektron pengimbasan mempunyai kedalaman medan yang besar, medan pandangan yang besar, dan imej tiga dimensi, dan boleh memerhati secara langsung struktur halus permukaan tidak rata pelbagai sampel.
Secara amnya, mikroskop optik digunakan terutamanya untuk pemerhatian dan pengukuran struktur aras mikron pada permukaan licin. Kerana cahaya yang boleh dilihat digunakan sebagai sumber cahaya, bukan sahaja tisu permukaan sampel boleh diperhatikan, tetapi juga tisu dalam julat tertentu di bawah permukaan juga boleh diperhatikan, dan Mikroskop optik adalah sangat sensitif dan tepat untuk pengecaman warna. Mikroskop elektron digunakan terutamanya untuk memerhati morfologi permukaan sampel skala nano. Oleh kerana SEM bergantung pada keamatan isyarat fizikal untuk membezakan maklumat tisu, imej SEM semuanya hitam dan putih, dan SEM tidak berkuasa untuk mengenal pasti imej berwarna. Walau bagaimanapun, mikroskop elektron pengimbasan bukan sahaja boleh memerhati morfologi organisasi permukaan sampel, tetapi juga boleh digunakan untuk analisis kualitatif dan kuantitatif unsur dengan menggunakan peralatan aksesori seperti penganalisis spektrum tenaga, dan boleh digunakan untuk menganalisis maklumat seperti komposisi kimia kawasan mikro sampel.
