Beberapa ciri mikroskop optik confocal
Kontras tinggi, resolusi tinggi
Dalam mikroskop optik konvensional, gangguan berlaku disebabkan oleh cahaya yang dipantulkan dari bahagian tidak fokus, yang bertindih dengan bahagian pengimejan titik fokus, mengakibatkan pengurangan kontras imej. Sebaliknya, dalam sistem optik confocal, cahaya bertaburan di luar titik fokus dan di dalam kanta objektif hampir dihapuskan sepenuhnya, menghasilkan imej dengan kontras yang sangat tinggi. Di samping itu, kuasa penyelesaian mikroskop bertambah baik kerana cahaya melalui kanta objektif dua kali, menajamkan imej titik.
Fungsi penyetempatan optik
Dalam sistem optik confocal, cahaya yang dipantulkan dilindungi oleh apertur mikro pada titik selain daripada titik fokus. Oleh itu, apabila memerhati sampel tiga dimensi, imej terbentuk seolah-olah sampel telah dihiris dengan titik fokus, dan kesan ini dipanggil penyetempatan optik, yang merupakan salah satu ciri sistem optik confocal.
Fokus anjakan fungsi ingatan
Cahaya pantulan di luar titik fokus disekat oleh mikrovia, supaya semua titik pada imej yang dicipta oleh sistem optik confocal boleh dianggap bertepatan dengan titik fokus. Dengan menggerakkan sampel stereo ke arah paksi-Z (paksi optik) dan mengumpul imej dalam ingatan, imej diperoleh di mana semua titik sampel bertepatan dengan titik fokus. Fungsi mendalamkan kedalaman fokus tanpa had dengan cara ini dipanggil fungsi ingatan bergerak.
Fungsi pengukuran bentuk permukaan
Dengan menambahkan litar rakaman ketinggian permukaan pada fungsi anjakan fokus, bentuk permukaan sampel boleh diukur bukan sentuhan. Dengan fungsi ini, adalah mungkin untuk merekodkan koordinat paksi-Z bagi nilai kecerahan maksimum setiap piksel dan mendapatkan maklumat tentang bentuk permukaan sampel berdasarkan maklumat ini.
Fungsi pengukuran mikrodimensi berketepatan tinggi
Sensor pengimejan CCD 1D digunakan dalam unit penerima cahaya, yang membolehkan pengukuran ketepatan tinggi tanpa terjejas oleh kecondongan pengimbasan pengimbas. Selain itu, fungsi memori peralihan fokus dengan kedalaman fokus boleh laras (mendalam) membolehkan untuk menghapuskan ralat pengukuran yang disebabkan oleh peralihan fokus.
