Perkongsian teknologi SEM untuk mengimbas mikroskop elektron
Prinsip analisis SEM menggunakan mikroskop elektron pengimbasan: Menggunakan teknologi elektronik untuk mengesan elektron sekunder, elektron berselerak belakang, elektron yang diserap, sinar-X, dsb. yang dihasilkan semasa interaksi antara rasuk elektron bertenaga tinggi dan sampel, dan menguatkannya menjadi imej
Kaedah perwakilan spektrogram termasuk imej berselerak belakang, imej elektron sekunder, imej arus serapan, taburan garis dan permukaan unsur, dsb.
Maklumat yang diberikan: morfologi patah, struktur mikro permukaan, struktur mikro di dalam filem, analisis unsur zon mikro dan analisis unsur kuantitatif, dsb.
Skop aplikasi mikroskopi elektron pengimbasan (SEM):
1. Analisis morfologi permukaan bahan dan pemerhatian morfologi kawasan mikro
2. Analisis pelbagai bentuk bahan, saiz, permukaan, keratan rentas dan taburan saiz zarah
3. Pemerhatian morfologi permukaan, analisis kekasaran dan ketebalan pelbagai sampel filem nipis
Projek ujian SEM
1. Analisis morfologi permukaan bahan dan pemerhatian morfologi kawasan mikro
2. Analisis pelbagai bentuk bahan, saiz, permukaan, keratan rentas dan taburan saiz zarah
3. Pemerhatian morfologi permukaan, analisis kekasaran dan ketebalan pelbagai sampel filem nipis
Penyediaan sampel mikroskop elektron pengimbasan adalah lebih mudah daripada sampel mikroskop elektron penghantaran, dan tidak memerlukan pembenaman atau pembahagian.
Keperluan sampel:
Sampel mestilah pepejal; Memenuhi keperluan komposisi bukan toksik, bukan radioaktif, tidak mencemarkan, bukan magnet, kontang dan stabil.
Prinsip penyediaan:
Sampel dengan pencemaran permukaan hendaklah dibersihkan dengan betul dan kemudian dikeringkan tanpa merosakkan struktur permukaan sampel;
Keretakan atau keratan rentas yang baru patah secara amnya tidak memerlukan rawatan untuk mengelak daripada merosakkan patah atau permukaan
Keadaan struktur;
Permukaan atau patah sampel yang akan dihakis hendaklah dibersihkan dan dikeringkan;
Pra penyahmagnetan sampel magnet;
Saiz sampel hendaklah sesuai dengan saiz pemegang sampel khusus instrumen.
Kaedah biasa:
sampel pukal
Bahan konduktif berhalangan: Tidak memerlukan penyediaan sampel, gunakan pelekat konduktif untuk mengikat sampel pada pemegang sampel untuk pemerhatian langsung.
Bahan tidak konduktif (atau kurang konduktif) berhalangan: Pertama, gunakan kaedah salutan untuk merawat sampel untuk mengelakkan pengumpulan cas dan menjejaskan kualiti imej.
