Ajar anda cara memilih antara mikroskop metalografi tegak atau terbalik
Pengimejan mikroskop metalografi tegak adalah imej positif, yang membawa kemudahan besar untuk pemerhatian dan pengenalan. Ia boleh menganalisis dan mengenal pasti sampel logam dengan ketinggian 20-30mm. Disebabkan pematuhannya dengan tabiat harian manusia, ia digunakan secara meluas dalam bahan lutsinar, separa lutsinar atau legap. Memerhati objek yang lebih besar daripada 3 mikron tetapi lebih kecil daripada 20 mikron, seperti seramik logam, cip elektronik, litar bercetak, substrat LCD, filem nipis, gentian, objek berbutir, salutan dan bahan lain, boleh mempunyai kesan pengimejan yang baik pada struktur permukaan dan jejak.
Mikroskop metalografi terbalik menggunakan kaedah pengimejan satah optik untuk mengenal pasti dan menganalisis struktur mikro pelbagai logam dan aloi. Ia merupakan alat penting untuk mengkaji metalografi dalam fizik logam dan boleh digunakan secara meluas di kilang atau makmal untuk kualiti tuangan, pemeriksaan bahan mentah, atau penyelidikan dan analisis struktur metalografi bahan selepas pemprosesan proses, memberikan hasil analisis intuitif. Ia adalah peralatan utama untuk pengenalpastian kualiti dan analisis tuangan, peleburan, dan rawatan haba dalam industri perlombongan, metalurgi, pembuatan dan pemprosesan mekanikal.
Mikroskop metalografi terbalik, dengan pemerhatian sampel menghadap ke bawah dan bertindih dengan permukaan meja kerja. Objektif pemerhatian terletak di bawah meja kerja dan dilihat ke atas, tanpa dihadkan oleh ketinggian sampel. Ia mudah digunakan, dengan struktur instrumen yang padat, penampilan yang cantik dan murah hati, kawasan sokongan asas yang besar, pusat graviti rendah, selamat, stabil dan boleh dipercayai. Permukaan kanta mata dan sokongan dicondongkan pada 45 darjah, menjadikan pemerhatian selesa.
Mikroskop terbalik GX53, yang merupakan instrumen yang tepat, digunakan secara meluas dalam keluli, automotif, elektronik dan industri pembuatan lain. Digunakan untuk mengesan logam yang digilap dan sampel yang dihiris dengan hanya meletakkan sampel terbalik di atas pentas. Bahagian bawah sampel tidak perlu diratakan, dan saiznya boleh menjadi lebih tebal, lebih besar atau lebih berat.
GX53 boleh memberikan imej jelas yang sukar diperoleh menggunakan kaedah pemerhatian mikroskopik tradisional. Apabila digunakan bersama perisian analisis imej Olympus Stream, mikroskop ini memudahkan proses pengesanan daripada pemerhatian kepada analisis imej dan pelaporan.
