Perbezaan antara mikroskop elektron dan mikroskop metalografi
Scanning ElectronMicroscope, disingkat sebagai SEM, ialah sistem kompleks yang memekatkan teknologi optik elektron, teknologi vakum, struktur mekanikal halus dan teknologi kawalan komputer moden. Mikroskop elektron pengimbasan mengumpul elektron yang dipancarkan oleh pistol elektron ke dalam pancaran elektron kecil melalui kanta elektromagnet berbilang peringkat di bawah tindakan memecut voltan tinggi. Mengimbas permukaan sampel merangsang pelbagai maklumat, dan dengan menerima, menguatkan dan memaparkan maklumat, permukaan sampel boleh dianalisis. Interaksi antara elektron kejadian dan sampel menghasilkan jenis maklumat yang ditunjukkan dalam Rajah 1. Taburan keamatan dua dimensi maklumat ini berubah dengan ciri-ciri permukaan sampel (ciri-ciri ini termasuk morfologi permukaan, komposisi, orientasi kristal, sifat elektromagnet, dsb.), yang merupakan penukaran berurutan dan berkadar bagi maklumat yang dikumpul oleh pelbagai pengesan. Isyarat video ditukar kepada isyarat video dan kemudian dihantar ke tiub gambar pengimbasan serentak dan kecerahannya dimodulasi untuk mendapatkan imej imbasan yang mencerminkan keadaan permukaan sampel. Jika isyarat yang diterima oleh pengesan diproses secara digital dan ditukar menjadi isyarat digital, ia boleh diproses dan disimpan oleh komputer. Mikroskopi elektron pengimbasan digunakan terutamanya untuk memerhati spesimen tebal dengan perbezaan ketinggian yang besar dan ketidaksamaan kasar. Oleh itu, kesan medan kedalaman diserlahkan dalam reka bentuk. Ia biasanya digunakan untuk menganalisis patah dan permukaan semula jadi yang belum diproses secara buatan.
Mikroskop Elektron dan Mikroskop Metalurgi
1. Sumber cahaya yang berbeza: Mikroskop metalografi menggunakan cahaya yang boleh dilihat sebagai sumber cahaya, dan mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya untuk pengimejan.
2. Prinsip yang berbeza: Mikroskop metalografik menggunakan prinsip pengimejan optik geometri untuk pengimejan, manakala mikroskop elektron pengimbasan menggunakan rasuk elektron bertenaga tinggi untuk mengebom permukaan sampel untuk merangsang pelbagai isyarat fizikal pada permukaan sampel, dan kemudian menggunakan pengesan isyarat yang berbeza untuk menerima isyarat fizikal dan menukarnya kepada imej. maklumat.
3. Peleraian yang berbeza: Disebabkan oleh gangguan dan pembelauan cahaya, resolusi mikroskop metalografi hanya boleh dihadkan kepada 0.2-0.5um. Oleh kerana mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya, resolusinya boleh mencapai antara 1-3nm. Oleh itu, pemerhatian tisu di bawah mikroskop metalografi tergolong dalam analisis peringkat mikron, manakala pemerhatian tisu di bawah mikroskop elektron pengimbasan tergolong dalam analisis peringkat nano.
4. Kedalaman medan yang berbeza: Secara amnya, kedalaman medan mikroskop metalografi adalah antara 2-3um, jadi ia mempunyai keperluan yang sangat tinggi untuk kelicinan permukaan sampel, jadi proses penyediaan sampelnya agak rumit. Mikroskop elektron pengimbasan mempunyai kedalaman medan yang besar, medan pandangan yang besar, dan imej tiga dimensi, dan boleh memerhati secara langsung struktur halus permukaan tidak rata pelbagai sampel.
