Prinsip pengukuran arus pusar untuk tolok ketebalan salutan
Isyarat komunikasi frekuensi tinggi menjana medan elektromagnet dalam gegelung probe, dan apabila probe menghampiri konduktor, arus pusar terbentuk di dalamnya. Semakin dekat probe dengan substrat konduktif, semakin besar arus pusar dan impedans pantulan. Tindakan maklum balas ini mencirikan jarak antara probe dan substrat konduktif, iaitu ketebalan salutan bukan konduktif pada substrat konduktif. Disebabkan fakta bahawa jenis kuar tolok ketebalan salutan ini direka khusus untuk mengukur ketebalan salutan pada substrat logam bukan feromagnetik, ia biasanya dirujuk sebagai kuar bukan magnet. Probe bukan magnet menggunakan bahan frekuensi tinggi sebagai teras gegelung. Berbanding dengan prinsip aruhan magnetik, perbezaan utama ialah siasatan tolok ketebalan salutan adalah berbeza, frekuensi isyarat berbeza, dan saiz isyarat dan hubungan skala adalah berbeza. Tolok ketebalan salutan menggunakan prinsip arus pusar boleh mengukur salutan bukan konduktif pada semua substrat konduktif, seperti cat, salutan plastik, dan filem beranod pada permukaan pesawat aeroangkasa, kenderaan, perkakas rumah, pintu dan tingkap aloi aluminium, dan lain-lain produk aluminium. Bahan salutan mempunyai tahap kekonduksian tertentu, yang juga boleh diukur melalui penentukuran, tetapi nisbah kekonduksian antara kedua-duanya dikehendaki sekurang-kurangnya 3-5 kali berbeza. Walaupun substrat keluli juga merupakan konduktor, ia masih lebih sesuai untuk mengukur ketebalan salutan menggunakan prinsip magnet untuk tugas tersebut.
Beberapa faktor yang mempengaruhi pengukuran tolok ketebalan salutan. Kaedah magnet untuk mengukur ketebalan dipengaruhi oleh perubahan dalam sifat logam substrat (dalam aplikasi praktikal, perubahan magnet dalam keluli karbon rendah boleh dianggap kecil). Untuk mengelakkan pengaruh rawatan haba dan faktor kerja sejuk, instrumen hendaklah ditentukur menggunakan kepingan standard dengan sifat yang sama dengan logam substrat spesimen; Kekonduksian logam asas mempunyai kesan ke atas pengukuran, dan kekonduksian logam asas berkaitan dengan komposisi bahan dan kaedah rawatan haba. Gunakan kepingan standard dengan sifat yang sama seperti logam asas spesimen untuk menentukur instrumen; Setiap instrumen mempunyai ketebalan kritikal, di atasnya pengukuran tidak dipengaruhi oleh ketebalan logam asas; Sensitif kepada perubahan curam dalam bentuk permukaan spesimen, adalah tidak boleh dipercayai untuk mengukur berhampiran tepi atau sudut dalam spesimen; Kelengkungan spesimen mempunyai kesan ke atas pengukuran, dan ia meningkat dengan ketara dengan penurunan jejari kelengkungan. Oleh itu, mengukur pada permukaan spesimen yang bengkok juga tidak boleh dipercayai; Probe akan menyebabkan ubah bentuk spesimen salutan lembut, jadi data yang boleh dipercayai tidak boleh diukur pada spesimen ini; Kekasaran permukaan logam asas dan salutan mempunyai kesan ke atas pengukuran. Apabila kekasaran meningkat, impaknya meningkat. Permukaan yang kasar boleh menyebabkan ralat sistematik dan tidak sengaja. Semasa setiap pengukuran, bilangan ukuran perlu ditambah pada kedudukan yang berbeza untuk mengatasi ralat tidak sengaja ini. Jika logam substrat adalah kasar, adalah perlu untuk mengambil beberapa kedudukan pada spesimen logam substrat yang tidak bersalut dengan kekasaran yang sama untuk menentukur titik sifar instrumen, atau melarutkan dan mengeluarkan salutan dengan larutan yang tidak menghakis logam substrat, dan kemudian tentukur titik sifar instrumen; Medan magnet yang kuat yang dihasilkan oleh pelbagai peralatan elektrik di sekeliling boleh mengganggu kerja pengukuran ketebalan magnet dengan serius; Bahan melekat yang menghalang sentuhan rapat antara probe dan permukaan salutan mesti dikeluarkan. Semasa pengukuran, adalah perlu untuk mengekalkan tekanan malar, pastikan probe berserenjang dengan permukaan spesimen, dan tolok ketebalan salutan boleh mencapai pengukuran.
