Kaedah Pengukuran Ketebalan Mikroskop Pengimbasan Ultrasonik
Mikroskop optik ialah alat optik yang menggunakan cahaya sebagai sumber cahaya untuk membesarkan dan memerhati struktur kecil yang tidak dapat dilihat dengan mata kasar. Mikroskop terawal dibuat oleh pakar optik pada tahun 1604.
Sepanjang dua dekad yang lalu, saintis telah menemui bahawa mikroskop optik boleh digunakan untuk mengesan, menjejak dan imej objek yang lebih kecil daripada separuh panjang gelombang cahaya nampak konvensional, atau beberapa ratus nanometer.
Oleh kerana mikroskop cahaya tidak digunakan secara tradisional untuk mengkaji skala nano, mereka sering kekurangan perbandingan yang ditentukur dengan piawaian untuk memeriksa bahawa keputusan adalah betul untuk maklumat yang tepat pada skala itu. Mikroskopi boleh dengan tepat dan konsisten menunjukkan lokasi yang sama bagi satu molekul atau zarah nano. Walau bagaimanapun, pada masa yang sama, ia boleh menjadi sangat tidak tepat, dan kedudukan objek yang dikenal pasti oleh mikroskop kepada dalam satu bilion meter mungkin sebenarnya berada dalam satu juta meter kerana tiada ralat.
Mikroskop optik adalah biasa di kalangan instrumen makmal dan boleh dengan mudah membesarkan sampel yang berbeza daripada sampel biologi yang halus kepada peranti elektrik dan mekanikal. Begitu juga, mikroskop optik menjadi lebih berkebolehan dan berpatutan kerana ia menggabungkan versi saintifik lampu dan kamera dalam telefon pintar anda.
Kaedah Pemerhatian Biasa Mikroskopi Optik
Kaedah Pemerhatian Interference Interference (DIC) Differential Interference Interference
prinsip
Cahaya terkutub diuraikan menjadi rasuk saling berserenjang dan sama intensiti melalui prisma khas, dan rasuk melalui objek pada dua titik yang sangat dekat (kurang daripada resolusi mikroskop), supaya terdapat sedikit perbezaan dalam fasa, menjadikan imej kelihatan tiga dimensi Perasaan tiga dimensi.
ciri-ciri
Ia boleh menjadikan objek di bawah pemeriksaan menghasilkan kesan stereoskopik tiga dimensi dan kesan pemerhatian adalah lebih intuitif. Tiada kanta objektif khas diperlukan, ia berfungsi lebih baik dengan pemerhatian pendarfluor, dan boleh melaraskan perubahan warna latar belakang dan objek untuk mencapai kesan yang diingini.
kaedah pemerhatian medan gelap
Darkfield sebenarnya adalah pencahayaan medan gelap. Ciri-cirinya berbeza daripada bidang terang. Ia tidak memerhatikan cahaya pencahayaan secara langsung, tetapi memerhatikan cahaya yang dipantulkan atau dibelaukan oleh objek yang sedang diperiksa. Oleh itu, medan pandangan adalah latar belakang gelap, manakala objek yang diperiksa menunjukkan imej yang terang.
Prinsip medan gelap adalah berdasarkan fenomena Tyndall dalam optik. Apabila habuk terus dilalui oleh cahaya yang kuat, mata manusia tidak dapat memerhatikannya, yang disebabkan oleh pembelauan cahaya yang kuat. Jika cahaya dilemparkan secara serong ke atasnya, disebabkan oleh pantulan cahaya, zarah itu seolah-olah bertambah besar dan boleh dilihat oleh mata manusia. Aksesori khas yang diperlukan untuk pemerhatian medan gelap ialah pemeluwap medan gelap. Ciri-cirinya ialah ia tidak membenarkan pancaran cahaya melalui objek dari bawah ke atas, tetapi mengubah laluan cahaya supaya ia menembak secara serong ke arah objek, supaya cahaya yang menerangi tidak langsung memasuki kanta objektif, dan menggunakan pantulan atau cahaya pembelauan yang dibentuk oleh permukaan objek Imej terang. Peleraian pemerhatian medan gelap jauh lebih tinggi daripada pemerhatian medan terang, mencapai 0.02-0.004 μm.
