Prinsip Kerja dan Penggunaan Mikroskop Elektron Penghantaran
Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM), boleh lihat dalam mikroskop optik tidak boleh melihat kurang daripada {{0}}.2 um struktur halus, struktur ini dipanggil struktur sub-mikroskopik atau ultramikrostruktur. Untuk melihat struktur ini, adalah perlu untuk memilih panjang gelombang yang lebih pendek bagi sumber cahaya, untuk meningkatkan resolusi mikroskop. 1932 Ruska mencipta pancaran elektron sebagai sumber cahaya mikroskop elektron penghantaran, panjang gelombang pancaran elektron jauh lebih pendek daripada panjang gelombang cahaya yang boleh dilihat dan cahaya ultraviolet, dan panjang gelombang pancaran elektron dan pancaran pancaran elektron. punca kuasa dua voltan berkadar songsang dengan itu adalah untuk mengatakan bahawa semakin tinggi voltan panjang gelombang yang lebih pendek. Pada masa ini kuasa penyelesaian TEM adalah sehingga 0.2nm.
Prinsip kerja mikroskop elektron penghantaran adalah pancaran elektron yang dipancarkan oleh pistol elektron, dalam saluran vakum di sepanjang paksi optik badan cermin melalui cermin pemeluwap, melalui cermin pemeluwap akan menumpu menjadi pancaran tempat yang tajam, terang dan seragam, penyinaran sampel dalam ruang sampel pada sampel; melalui sampel selepas rasuk elektron membawa sampel dengan maklumat struktur dalaman, sampel dalam tumpat melalui jumlah elektron adalah kecil, jumlah elektron yang dihantar melalui tempat yang lebih jarang elektron; selepas penumpuan pemfokusan kanta objektif dan Selepas pemfokusan penumpuan kanta objektif dan pembesaran primer, pancaran elektron ke tahap bawah kanta perantaraan dan cermin unjuran pertama, kedua untuk pengimejan pembesaran bersepadu, dan akhirnya imej elektronik yang diperbesarkan dipancarkan pada bilik pemerhatian papan skrin pendarfluor; skrin pendarfluor akan ditukar kepada imej yang boleh dilihat bagi imej elektronik untuk diperhatikan oleh pengguna. Dalam bahagian ini, struktur dan prinsip utama setiap sistem diterangkan.
Prinsip pengimejan mikroskop elektron penghantaran boleh dibahagikan kepada tiga kes:
1. Penyerapan seperti: apabila elektron ditembak ke jisim, ketumpatan sampel, kesan pembentuk fasa utama ialah kesan penyebaran. Sampel pada ketebalan jisim tempat pada sudut serakan elektron adalah besar, melalui elektron adalah kurang, seperti kecerahan yang lebih gelap. Mikroskop elektron penghantaran awal adalah berdasarkan prinsip ini.
2. Imej pembelauan: Selepas rasuk elektron dibiaskan oleh sampel, taburan amplitud gelombang pembelauan pada kedudukan sampel yang berbeza sepadan dengan keupayaan pembezaan yang berbeza bagi setiap bahagian kristal dalam sampel. Apabila terdapat kecacatan kristal, keupayaan difraksi bahagian yang rosak adalah berbeza daripada kawasan yang utuh, dengan itu menjadikan taburan amplitud gelombang pembelauan tidak sekata dan mencerminkan taburan kecacatan kristal.
3. Imej fasa: Apabila sampel adalah setipis 100Å atau kurang, elektron boleh melalui sampel, dan perubahan amplitud gelombang boleh diabaikan, dan pengimejan datang daripada perubahan fasa.
