Kaedah penggunaan lensa kuasa - rendah dalam mikroskop metallografi
1. Gunakan tangan kiri anda untuk memutar skru pelarasan kasar mikroskop metallographic untuk menaikkan tong lensa atau menurunkan panggung, kemudian putar penukar lensa objektif untuk menyelaraskan cermin pembesaran yang rendah dengan melalui lubang panggung (perhatikan perhatian untuk menjajarkan notis di atas lensa objektif dengan gesper yang ditetapkan apabila berputar. Bahagian atas cermin pengumpulan sedikit lebih rendah daripada ketinggian satah panggung, buka kedua -dua mata pada masa yang sama, dan laraskan arah reflektor sehingga cahaya dalam bidang pandangan adalah seragam dan kecerahannya sederhana.
2. Tempat spesimen slaid kaca di bawah mikroskop metallografi
Ambil spesimen slaid kaca dan letakkan di atas panggung, dengan kaca penutup menghadap ke atas. Betulkannya pada penolak dan kemudian putar secara manual skru penolak untuk menyelaraskan spesimen yang akan diperhatikan dengan pusat lubang cahaya.
3. Laraskan panjang fokus mikroskop metallographic
Putar skru pelarasan kasar dengan tangan untuk membuat jarak di antara cermin pembesaran yang rendah dan spesimen slaid kurang daripada 6mm (apabila menyesuaikan, jarak antara kanta objektif dan slaid mesti diperhatikan dari sisi, dan jangan putar skru pelarasan kasar semasa memerhati dengan mata pada mata mata untuk mengelakkan kerosakan yang disebabkan oleh lensa yang diselaraskan dengan lensa yang disebut dengan lensa yang diselipkan dengan slaid). Kemudian buka kedua -dua mata pada masa yang sama, perlahan -lahan memutarkan skru pelarasan kasar dengan tangan untuk menaikkan lensa atau menurunkan panggung. Apabila imej objek muncul dalam bidang pandangan, laraskan skru pelarasan halus sehingga imej objek yang jelas muncul dalam bidang pandangan. Jika imej objek tidak berada di tengah -tengah bidang pandangan, kedudukan spesimen slaid boleh dipindahkan, ke bawah, kiri, dan kanan (nota: arah pergerakan serpihan bertentangan dengan arah pergerakan imej objek yang diperhatikan). Jika jarak antara lensa dan spesimen melebihi jarak kerja dan tiada imej objek dilihat apabila menyesuaikan panjang fokus, langkah -langkah di atas harus diikuti dengan ketat lagi.
