Apakah kelebihan tolok ketebalan pelapisan berbanding dengan tolok ketebalan salutan
Tolok ketebalan salutan adalah produk yang baru dibangunkan, yang mempunyai kelebihan utama berikut berbanding dengan tolok ketebalan salutan sebelumnya:
1. Kelajuan pengukuran pantas: 6 kali lebih cepat daripada siri TT lain;
2. Ketepatan tinggi: Ketepatan produk boleh mencapai 1-2 peratus selepas penentukuran mudah. Ia adalah produk yang boleh mencapai gred A di pasaran. Ketepatannya jauh lebih tinggi daripada produk domestik yang sama seperti Times. Ia juga lebih tinggi daripada produk import seperti EPK;
3. Kestabilan: Kestabilan nilai yang diukur dan kestabilan penggunaan adalah lebih baik daripada produk import;
4. Fungsi, data, operasi dan paparan semuanya dalam bahasa Cina;
Lapisan penutup yang dibentuk untuk melindungi dan menghiasi permukaan bahan, seperti salutan, penyaduran, pelapisan, melekat, filem yang dibentuk secara kimia, dan lain-lain, dipanggil salutan dalam piawaian kebangsaan dan antarabangsa yang berkaitan. Pengukuran ketebalan salutan telah menjadi bahagian penting dalam pemeriksaan kualiti dalam industri pemprosesan dan kejuruteraan permukaan, dan ia merupakan cara penting untuk produk memenuhi piawaian kualiti tinggi. Untuk menjadikan produk itu diantarabangsakan, terdapat keperluan yang jelas untuk ketebalan pelapisan dalam komoditi eksport negara saya dan projek berkaitan asing.
Kaedah pengukuran ketebalan pelapisan terutamanya termasuk: kaedah pemotongan baji, kaedah keratan optik, kaedah elektrolisis, kaedah pengukuran perbezaan ketebalan, kaedah penimbang, kaedah pendarfluor sinar-X, kaedah penyerakan belakang sinar, kaedah kapasitansi, kaedah pengukuran magnet dan undang-undang pengukuran arus pusar dsb. Antara kaedah ini, lima yang pertama adalah ujian yang merosakkan, kaedah pengukuran adalah rumit dan perlahan, dan kebanyakannya sesuai untuk pemeriksaan pensampelan.
Kaedah X-ray dan -ray adalah ukuran bukan sentuhan dan tidak merosakkan, tetapi perantinya rumit dan mahal, dan julat pengukurannya kecil. Disebabkan sumber radioaktif, pengguna mesti mematuhi peraturan perlindungan sinaran. Kaedah X-ray boleh mengukur salutan yang sangat nipis, salutan berganda dan salutan aloi. Kaedah -ray sesuai untuk pengukuran salutan dan salutan dengan nombor atom substrat yang lebih besar daripada 3. Kaedah kemuatan hanya digunakan apabila mengukur ketebalan salutan penebat konduktor nipis.
