Apakah kaedah penentukuran untuk tolok ketebalan salutan?
Apakah kaedah penentukuran untuk tolok ketebalan salutan? Terdapat tiga kaedah penentukuran utama untuk tolok ketebalan salutan, iaitu penentukuran sistem, penentukuran dua titik dan penentukuran berasaskan besi. Dalam keadaan biasa hanya penentukuran berasaskan besi diperlukan untuk membuat ukuran yang tepat. Apabila sifat magnetik dan kekasaran permukaan tapak besi instrumen dan tapak besi objek yang diukur adalah sangat berbeza, penentukuran sistem boleh dilakukan untuk memastikan ketepatan pengukuran. Seterusnya, kami akan memperkenalkan kaedah penentukuran tolok ketebalan salutan secara terperinci.
(1) Penentukuran berasaskan besi
Kemagnetan dan kekasaran permukaan logam asas piawai instrumen hendaklah sama dengan kemagnetan dan kekasaran permukaan logam asas kepingan ujian. Untuk memastikan ketepatan pengukuran, penentukuran berasaskan besi boleh dilakukan sebelum mengukur bahagian ujian.
Kaedah penentukuran: Selepas instrumen dihidupkan, mula-mula letakkan probe pada substrat terdedah bahagian ujian untuk pengukuran. Ukur dua kali. Selepas pengukuran kedua, tahan probe dan tekan kekunci "CAL", diikuti dengan dua bunyi bip. Penentukuran berasaskan besi boleh diselesaikan. Jika dua bip tidak dikeluarkan, ini bermakna operasi tidak betul. Ulangi langkah di atas sehingga dua bunyi bip dikeluarkan.
(2) Penentukuran dua titik
Semasa proses pengukuran, jika nilai pengukuran individu didapati mempunyai sisihan yang besar, ia boleh dilaraskan melalui kaedah penentukuran dua titik.
Kaedah penentukuran: Ukur sekeping yang diuji dengan ketebalan yang diketahui sebagai sampel standard. Jika nilai yang dipaparkan tidak konsisten dengan nilai sebenar, anda boleh menambah atau menolak 1 dengan menekan kekunci "▲" atau "▼". Tekan dan tahan kekunci "▲" dan "▼" untuk melakukan penambahan dan penolakan berterusan sehingga nilai yang dipaparkan adalah sama dengan nilai sebenar. Selepas penentukuran selesai, pengukuran biasa boleh dilakukan.
Nota: Ketebalan bahagian yang diuji yang dipilih semasa penentukuran dua mata tidak seharusnya hampir dengan lima nilai sampel semasa penentukuran sistem, jika tidak, operasi akan menjadi tidak sah.
Apabila penentukuran sampel kelima selesai, skrin memaparkan "0000'', dan antara muka permulaan dimasukkan seperti ditunjukkan dalam Rajah A. Instrumen telah menyelesaikan proses penentukuran sistem. Pada masa hadapan, peranti di bawah ujian boleh diukur secara langsung.
Nota: Lima keping sampel ini boleh menggunakan sekeping standard yang disediakan atau sekeping sampel dengan ketebalan yang diketahui sebagai sekeping standard. Penentukuran sampel hendaklah dijalankan mengikut tertib dari kecil ke besar, dan perlu ada perbezaan tertentu antara sampel bersebelahan.
