Apakah perbezaan antara mikroskop metalografi dan mikroskop elektron pengimbasan?
Mikroskop metalografik ialah mikroskop yang digunakan untuk memerhati permukaan sampel logam (struktur metalografik) dengan pencahayaan kejadian. Ia menggabungkan teknologi mikroskop optik, teknologi penukaran fotoelektrik, dan teknologi pemprosesan imej komputer. Produk berteknologi tinggi boleh memerhatikan imej metalografi pada komputer dengan mudah, supaya imej metalografi boleh dianalisis, digredkan, dsb., dan imej output adalah. Mikroskop metalografik ialah sejenis mikroskop optik. Berbanding dengan mikroskop elektron, resolusi lebih kecil, resolusi mikron lebih kecil, dan pembesaran lebih kecil, tetapi ia mudah dikendalikan. Bidang pandangan yang besar, harga yang agak rendah.
Mikroskop Metalografik Jenis baru alat elektro-optik yang digunakan dalam pengimbasan mikroskop elektron. Ia menampilkan penyediaan sampel yang mudah, lebar medan pembesaran boleh laras, peleraian imej tinggi, kedalaman medan dan banyak lagi. Mikroskopi elektron pengimbasan telah digunakan secara meluas dalam bidang biologi, perubatan, dan metalurgi selama beberapa dekad, dan telah menggalakkan pembangunan pelbagai disiplin berkaitan. Ciri-ciri mikroskop elektron pengimbasan: mikroskop elektron, resolusi imej tinggi, resolusi skala nano, pembesaran boleh laras dan besar, satu lagi ciri penting ialah kedalaman medan yang besar dan imej tiga dimensi yang kaya.
Terdapat perbezaan besar antara mikroskop metalografi dan mikroskop elektron pengimbasan, terutamanya dalam aspek berikut:
1. Sumber cahaya yang berbeza: mikroskop metalografi menggunakan cahaya yang boleh dilihat sebagai sumber cahaya, dan mikroskop elektron pengimbasan menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya untuk pengimejan.
2. Prinsipnya berbeza: mikroskop metalografi menggunakan prinsip pengimejan optik geometri untuk mengimbas, dan mikroskop elektron pengimbasan menggunakan rasuk elektron bertenaga tinggi untuk membedil permukaan sampel untuk merangsang pelbagai isyarat fizikal pada permukaan. sampel, kemudian gunakan pengesan isyarat yang berbeza untuk mengambil isyarat fizikal dan menukarnya kepada imej. maklumat.
3. Penyelesaian: Disebabkan oleh gangguan dan pembelauan cahaya, mikroskop metalografik hanya boleh dihadkan kepada 0.2-0.5um. Mengimbas mikroskop elektron menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya dan peleraiannya boleh mencapai 1-3nm. Oleh itu, pemerhatian struktur mikro oleh mikroskop metalografi tergolong dalam analisis mikron, dan pemerhatian dengan pengimbasan mikroskop elektron tergolong dalam analisis skala nano.
4. Kedalaman medan: Kedalaman medan mikroskop metalografi am adalah antara 2-3um, jadi kelicinan permukaan sampel diperlukan untuk menjadi sangat tinggi, jadi proses penyediaan agak rumit. Kedalaman medan SEM boleh setinggi beberapa.
