Apakah perbezaan antara mikroskop elektron dan mikroskop optik dalam memerhati objek?
Mikroskop optik sangat berbeza daripada mikroskop elektron, dengan sumber cahaya yang berbeza, kanta yang berbeza, prinsip pengimejan yang berbeza, resolusi yang berbeza, kedalaman medan yang berbeza, dan kaedah penyediaan sampel yang berbeza. Mikroskop optik, biasanya dikenali sebagai mikroskop cahaya, adalah mikroskop yang menggunakan cahaya boleh dilihat sebagai sumber pencahayaan. Mikroskop optik ialah alat optik yang menggunakan prinsip optik untuk membesarkan dan imej objek kecil yang tidak dapat dibezakan oleh mata manusia, supaya orang ramai boleh mengekstrak maklumat struktur mikro. Ia digunakan secara meluas dalam biologi sel. Mikroskop optik biasanya terdiri daripada pentas, sistem pencahayaan lampu sorot, kanta objektif, kanta mata, dan mekanisme pemfokusan. Pentas digunakan untuk memegang objek yang akan diperhatikan. Mekanisme pelarasan fokus boleh didorong oleh tombol pelarasan fokus, dan pentas boleh dilaraskan secara kasar atau dilaraskan dengan halus untuk memudahkan pengimejan yang jelas bagi objek yang diperhatikan. Imej yang dibentuk oleh mikroskop optik ialah imej terbalik (terbalik, kiri dan kanan boleh ditukar ganti). Mikroskop elektron adalah kelahiran produk teknologi canggih. Ia sama dengan mikroskop optik yang biasa kita gunakan, tetapi ia sangat berbeza daripada mikroskop optik. Pertama, mikroskop optik menggunakan sumber cahaya. Mikroskop elektron menggunakan pancaran elektron, dan hasil yang dilihat oleh kedua-duanya adalah berbeza. Katakan sahaja pembesarannya berbeza. Sebagai contoh, apabila memerhati sel, mikroskop cahaya hanya boleh melihat sel dan beberapa organel, seperti mitokondria dan kloroplas, tetapi hanya Kewujudan selnya boleh dilihat, tetapi struktur khusus organel tidak dapat dilihat. Mikroskop elektron boleh melihat struktur halus organel dengan lebih terperinci, dan juga makromolekul seperti protein. Mikroskop elektron termasuk mikroskop elektron penghantaran, mikroskop elektron pengimbasan, mikroskop elektron pantulan, dan mikroskop elektron pelepasan. Antaranya, mikroskop elektron pengimbasan lebih banyak digunakan. Mikroskopi elektron pengimbasan digunakan secara meluas dalam analisis dan penyelidikan bahan. Ia digunakan terutamanya dalam analisis patah bahan, analisis komponen kawasan mikro, analisis morfologi permukaan pelbagai lapisan, pengukuran ketebalan lapisan, morfologi mikrostruktur dan analisis bahan nano. Gabungan difraktometer sinar-X atau spektrometer tenaga elektron membentuk mikroprob elektronik untuk analisis komposisi bahan, dsb. Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEC), disingkat SEC, ialah sejenis alat optik elektron yang baharu. Ia terdiri daripada tiga bahagian: sistem vakum, sistem pancaran elektron dan sistem pengimejan. Ia menggunakan pelbagai isyarat fizikal yang teruja apabila pancaran elektron tertumpu halus mengimbas permukaan sampel untuk memodulasi pengimejan. Elektron kejadian menyebabkan elektron sekunder teruja dari permukaan sampel. Apa yang diperhatikan oleh mikroskop ialah elektron yang bertaburan dari setiap titik, dan kristal kilauan yang diletakkan di sebelah sampel menerima elektron sekunder ini, memodulasi keamatan pancaran elektron tiub gambar selepas penguatan, dan menukar kecerahan pada skrin tiub gambar. Gegelung pesongan kineskop terus mengimbas secara serentak dengan pancaran elektron pada permukaan sampel, supaya skrin pendarfluor kineskop memaparkan imej topografi permukaan sampel. Ia mempunyai ciri-ciri penyediaan sampel mudah, pembesaran boleh laras, julat luas, resolusi imej yang tinggi, dan kedalaman medan yang besar. Prestasi aplikasi mikroskop elektron penghantaran: 1. Analisis kecacatan kristal. Semua struktur yang memusnahkan tempoh kekisi biasa secara kolektif dipanggil kecacatan kristal, seperti kekosongan, kehelan, sempadan butiran dan mendakan. Struktur ini yang memusnahkan keberkalaan kekisi akan membawa kepada perubahan dalam keadaan pembelauan kawasan di mana kecacatan itu terletak, menjadikan keadaan pembelauan kawasan di mana kecacatan terletak berbeza daripada kawasan biasa, dengan itu menunjukkan yang sepadan. perbezaan kecerahan dan kegelapan pada skrin pendarfluor. 2. Analisis organisasi. Selain pelbagai kecacatan yang boleh menghasilkan corak pembelauan yang berbeza, ia boleh digunakan untuk menganalisis struktur dan orientasi hablur sambil memerhati morfologi struktur. 3. Pemerhatian in situ. Dengan peringkat sampel yang sepadan, eksperimen in situ boleh dilakukan dalam TEM. Sebagai contoh, proses ubah bentuk dan patah boleh diperhatikan dengan meregangkan sampel dengan terikan. 4. Teknologi mikroskopi resolusi tinggi. Meningkatkan resolusi supaya kita dapat memerhatikan struktur mikro jirim dengan lebih mendalam telah menjadi matlamat yang sentiasa dikejar oleh orang ramai. Mikroskop elektron resolusi tinggi menggunakan perubahan fasa pancaran elektron, dan pengimejan koheren dibentuk oleh lebih daripada dua pancaran elektron. Di bawah syarat bahawa resolusi mikroskop elektron cukup tinggi, lebih banyak rasuk elektron digunakan, lebih tinggi resolusi imej, malah Ia boleh digunakan untuk imej struktur atom sampel nipis.
