Apakah perbezaan antara mikroskop elektron dan mikroskop cahaya dalam mengamati objek?
Terdapat perbezaan yang signifikan antara mikroskop optik dan mikroskop elektron, termasuk sumber cahaya yang berbeza, kanta, prinsip pengimejan, resolusi, kedalaman bidang, dan kaedah penyediaan sampel. Mikroskop optik, yang biasanya dikenali sebagai cermin cahaya, adalah sejenis mikroskop yang menggunakan cahaya yang kelihatan sebagai sumber pencahayaan. Mikroskop optik adalah instrumen optik yang menggunakan prinsip optik untuk membesarkan dan imej objek kecil yang tidak dapat dibezakan oleh mata manusia, untuk mengekstrak maklumat mengenai mikrostruktur. Ia mempunyai pelbagai aplikasi dalam biologi sel.
Mikroskop optik umumnya terdiri daripada tahap, sistem pencahayaan sorotan, lensa objektif, kanta mata, dan mekanisme fokus. Tahap digunakan untuk memegang objek yang diperhatikan. Tombol yang fokus boleh digunakan untuk memacu mekanisme fokus, yang membolehkan pelarasan kasar atau halus dari panggung, memudahkan pengimejan yang jelas dari objek yang diperhatikan.
Imej yang dibentuk oleh mikroskop optik terbalik (terbalik, pertukaran kanan kiri). Mikroskop elektron adalah tempat kelahiran produk teknologi mewah, yang mempunyai persamaan dengan mikroskop optik yang biasanya kita gunakan, tetapi sangat berbeza dari mereka. Pertama, mikroskop optik menggunakan sumber cahaya. Mikroskopi elektron, sebaliknya, menggunakan rasuk elektron, dan hasil yang dapat dilihat dari kedua -duanya adalah berbeza, apalagi pembesaran. Sebagai contoh, apabila memerhatikan sel, mikroskop cahaya hanya dapat melihat sel dan beberapa organel, seperti mitokondria dan kloroplas, tetapi hanya dapat melihat kehadiran sel -selnya dan tidak dapat melihat struktur organel tertentu. Mikroskop elektron dapat memberikan pandangan yang lebih terperinci tentang struktur organel yang rumit, dan bahkan mendedahkan molekul besar seperti protein. Mikroskop elektron termasuk mikroskop elektron penghantaran, pengimbasan mikroskop elektron, mikroskop elektron refleksi, dan mikroskop elektron pelepasan. Antaranya, pengimbasan mikroskopi elektron lebih banyak digunakan.
Pengimbasan mikroskopi elektron digunakan secara meluas dalam analisis dan penyelidikan bahan, terutamanya untuk analisis fraktur bahan, analisis komposisi kawasan mikro, pelbagai analisis morfologi permukaan salutan, pengukuran ketebalan lapisan, morfologi mikrostruktur dan analisis bahan nano. Ia juga boleh digabungkan dengan diffractometer X-ray atau spektrometer tenaga elektron untuk membentuk mikroba elektron untuk analisis komposisi bahan, dll.
Pengimbasan Mikroskop Elektron (SEC), disingkat sebagai SEC, adalah jenis instrumen optik elektron baru. Ia terdiri daripada tiga bahagian utama: sistem vakum, sistem rasuk elektron, dan sistem pengimejan. Ia memodulasi pencitraan menggunakan pelbagai isyarat fizikal yang teruja oleh rasuk elektron yang fokus yang mengimbas permukaan sampel. Elektron kejadian itu merangsang elektron sekunder di permukaan sampel. Mikroskop memerhatikan elektron yang bertaburan dari setiap titik. Kristal scintillation diletakkan di sebelah sampel menerima elektron sekunder ini, memodulasi intensiti rasuk elektron tiub gambar selepas penguatan, dan mengubah kecerahan skrin tiub gambar. Gegelung pesongan tiub sinar katod secara serentak diimbas dengan rasuk elektron pada permukaan sampel, supaya skrin pendarfluor tiub sinar katod memaparkan imej morfologi permukaan sampel. Ia mempunyai ciri -ciri penyediaan sampel mudah, pembesaran laras, julat luas, resolusi imej yang tinggi, dan kedalaman medan yang besar.
Prestasi aplikasi mikroskopi elektron penghantaran:
1. Analisis kecacatan kristal. Semua struktur yang mengganggu tempoh kisi normal secara kolektif dirujuk sebagai kecacatan kristal, seperti kekosongan, dislokasi, sempadan bijian, mencetuskan, dan lain -lain. Skrin pendarfluor.
2. Analisis Organisasi. Sebagai tambahan kepada pelbagai kecacatan yang dapat menghasilkan corak difraksi yang berlainan, struktur kristal dan analisis orientasi dapat dilakukan sambil memerhatikan morfologi tisu.
3. In situ pemerhatian. Dengan menggunakan peringkat sampel yang sepadan, eksperimen in-situ boleh dijalankan dalam mikroskopi elektron penghantaran. Sebagai contoh, menggunakan sampel tegangan terikan untuk memerhatikan proses ubah bentuk dan patah mereka.
4. Teknologi Mikroskopi Resolusi Tinggi. Meningkatkan resolusi untuk pemerhatian yang lebih mendalam mengenai struktur mikro bahan selalu menjadi matlamat yang dijalankan oleh orang. Mikroskopi elektron resolusi tinggi menggunakan perubahan fasa rasuk elektron untuk mengamati dua atau lebih rasuk elektron. Di bawah keadaan di mana resolusi mikroskop elektron cukup tinggi, lebih banyak rasuk elektron yang digunakan, semakin tinggi resolusi imej, dan bahkan dapat digunakan untuk pengimejan struktur atom sampel nipis.
