Apakah perbezaan antara mikroskop elektron dan mikroskop optik dalam memerhati objek?
Mikroskop optik sangat berbeza daripada mikroskop elektron, dengan sumber cahaya yang berbeza, kanta yang berbeza, prinsip pengimejan yang berbeza, resolusi yang berbeza, kedalaman medan yang berbeza, dan kaedah penyediaan sampel yang berbeza. Mikroskop optik, biasanya dikenali sebagai mikroskop cahaya, adalah mikroskop yang menggunakan cahaya boleh dilihat sebagai sumber cahaya pencahayaan. Mikroskop optik ialah alat optik yang menggunakan prinsip optik untuk membesarkan dan imej objek kecil yang tidak dapat dibezakan oleh mata manusia, supaya orang ramai boleh mengekstrak maklumat struktur mikro. Ia digunakan secara meluas dalam biologi sel. Mikroskop optik biasanya terdiri daripada peringkat, sistem pencahayaan pemeluwap, kanta objektif, kanta mata dan mekanisme pemfokusan. Pentas digunakan untuk memegang objek yang akan diperhatikan. Mekanisme pemfokusan boleh digerakkan oleh tombol pemfokus untuk membuat pentas bergerak secara kasar atau halus, supaya objek yang diperhatikan dapat digambarkan dengan jelas. Imej yang dibentuk oleh mikroskop optik ialah imej terbalik (terbalik, kiri dan kanan bertukar). Mikroskop elektron adalah tempat kelahiran produk teknikal mewah. Ia serupa dengan mikroskop optik yang biasa kita gunakan, tetapi ia sangat berbeza daripada mikroskop optik. Pertama, mikroskop optik menggunakan sumber cahaya. Mikroskop elektron menggunakan pancaran elektron, dan hasil yang dapat dilihat antara keduanya adalah berbeza, dan pembesaran adalah berbeza. Sebagai contoh, apabila memerhati sel, mikroskop cahaya hanya boleh melihat sel dan beberapa organel, seperti mitokondria dan kloroplas, tetapi hanya Kewujudan selnya boleh dilihat, tetapi struktur khusus organel tidak dapat dilihat. Mikroskop elektron, sebaliknya, boleh melihat struktur organel yang lebih halus dengan lebih terperinci, dan juga makromolekul seperti protein. Mikroskop elektron termasuk mikroskop elektron penghantaran, mikroskop elektron pengimbasan, mikroskop elektron pantulan, dan mikroskop elektron pelepasan. Antaranya, mikroskopi elektron pengimbasan lebih meluas digunakan. Mikroskopi elektron pengimbasan digunakan secara meluas dalam analisis dan penyelidikan bahan, terutamanya digunakan dalam analisis patah bahan, analisis komposisi kawasan mikro, analisis morfologi permukaan pelbagai lapisan, pengukuran ketebalan lapisan dan morfologi mikrostruktur dan analisis bahan nano. Digabungkan dengan difraktometer sinar-X atau spektrometer tenaga elektron, ia membentuk mikroprob elektron, yang digunakan untuk analisis komposisi bahan, dsb. Mikroskop Elektron Pengimbasan, disingkat SEC, ialah jenis instrumen optik elektron baharu. Ia terdiri daripada tiga bahagian: sistem vakum, sistem pancaran elektron dan sistem pengimejan. Ia menggunakan pelbagai isyarat fizikal yang teruja oleh pancaran elektron tertumpu halus untuk mengimbas permukaan sampel untuk memodulasi pengimejan. Elektron kejadian menyebabkan elektron sekunder teruja dari permukaan sampel. Apa yang diperhatikan oleh mikroskop ialah elektron bertaburan dari setiap titik, dan kristal kilauan yang diletakkan di sebelah sampel menerima elektron sekunder ini, dan memodulasi keamatan pancaran elektron tiub gambar selepas amplifikasi untuk menukar kecerahan pada skrin gambar. tiub. Kuk pesongan tiub gambar terus mengimbas secara serentak dengan pancaran elektron pada permukaan sampel, supaya skrin fosfor tiub gambar memaparkan imej topografi permukaan sampel. Ia mempunyai ciri-ciri penyediaan sampel mudah, pembesaran boleh laras, julat luas, resolusi imej tinggi dan kedalaman medan yang besar. Prestasi aplikasi mikroskop elektron penghantaran: 1. Analisis kecacatan kristal. Semua struktur yang memusnahkan tempoh kekisi biasa secara kolektif dirujuk sebagai kecacatan kristal, seperti kekosongan, kehelan, sempadan butiran dan mendakan. Struktur yang memusnahkan keberkalaan kekisi ini akan membawa kepada perubahan dalam keadaan pembelauan kawasan di mana kecacatan itu terletak, sehingga keadaan pembelauan kawasan di mana kecacatan terletak berbeza daripada kawasan biasa, supaya perbezaan yang sepadan dalam kecerahan dan kegelapan dipaparkan pada skrin fosfor. 2. Analisis organisasi. Sebagai tambahan kepada pelbagai kecacatan, corak pembelauan yang berbeza boleh dihasilkan, yang melaluinya struktur dan orientasi kristal boleh dianalisis sambil memerhatikan struktur mikro. 3. Pemerhatian in situ. Dengan peringkat sampel yang sepadan, eksperimen in situ boleh dilakukan dalam TEM. Sebagai contoh, sampel tegangan terikan digunakan untuk memerhatikan proses ubah bentuk dan patahnya. 4. Mikroskopi resolusi tinggi. Memperbaiki resolusi supaya struktur mikro jirim dapat diperhatikan dengan lebih mendalam sentiasa menjadi matlamat yang sentiasa dikejar oleh orang ramai. Mikroskopi elektron resolusi tinggi menggunakan perubahan fasa pancaran elektron, yang diimej secara koheren oleh lebih daripada dua pancaran elektron. Di bawah syarat bahawa resolusi mikroskop elektron cukup tinggi, lebih banyak rasuk elektron digunakan, lebih tinggi resolusi imej, malah Boleh digunakan untuk imej struktur atom sampel nipis.
