Apakah prinsip pengukuran arus pusar bagi tolok ketebalan salutan
Isyarat AC frekuensi tinggi menghasilkan medan elektromagnet dalam gegelung probe, dan apabila probe dekat dengan konduktor, arus pusar terbentuk di dalamnya. Semakin dekat probe dengan substrat konduktif, semakin besar arus pusar dan semakin besar impedans pantulan. Tindakan maklum balas ini mencirikan saiz jarak antara probe dan substrat konduktif, iaitu ketebalan salutan bukan konduktif pada substrat konduktif. Oleh kerana kuar tolok ketebalan salutan jenis ini direka bentuk untuk mengukur ketebalan salutan pada substrat logam bukan feromagnetik, ia sering dipanggil kuar bukan magnet. Probe bukan magnet menggunakan bahan frekuensi tinggi sebagai teras gegelung. Berbanding dengan prinsip aruhan magnetik, perbezaan utama adalah bahawa probe tolok ketebalan salutan adalah berbeza, frekuensi isyarat berbeza, dan saiz isyarat dan hubungan skala adalah berbeza. Tolok ketebalan salutan menggunakan prinsip arus pusar boleh mengukur salutan bukan konduktif pada semua substrat konduktif pada dasarnya, seperti salutan cat dan plastik pada permukaan kenderaan aeroangkasa, kenderaan, perkakas rumah, pintu dan tingkap aloi aluminium, dan aluminium lain. produk. dan filem anodized. Bahan salutan mempunyai kekonduksian tertentu, yang juga boleh diukur melalui penentukuran, tetapi nisbah kedua-dua kekonduksian dikehendaki sekurang-kurangnya 3-5 kali berbeza. Walaupun substrat keluli juga merupakan konduktor, prinsip magnet untuk mengukur ketebalan salutan adalah lebih sesuai untuk jenis tugas ini.
Beberapa faktor mempengaruhi ukuran tolok ketebalan salutan. Ketebalan yang diukur dengan kaedah magnet dipengaruhi oleh perubahan sifat logam asas (dalam aplikasi praktikal, perubahan sifat magnet keluli karbon rendah boleh dianggap sedikit). Lembaran standard digunakan untuk menentukur instrumen; kekonduksian logam asas mempunyai kesan ke atas pengukuran, dan kekonduksian logam asas berkaitan dengan komposisi bahan dan kaedah rawatan haba. Kalibrasi instrumen dengan menggunakan helaian piawai dengan sifat yang sama seperti logam asas kepingan ujian; setiap instrumen mempunyai ketebalan kritikal, lebih besar daripada ketebalan ini, pengukuran tidak akan terjejas oleh ketebalan logam asas; ia sensitif kepada perubahan mendadak bentuk permukaan bahagian ujian, Oleh itu, ia tidak boleh dipercayai untuk mengukur berhampiran tepi atau sudut dalam bahagian ujian; kelengkungan bahagian ujian mempunyai pengaruh ke atas pengukuran, yang meningkat dengan ketara dengan penurunan jejari kelengkungan, oleh itu, pengukuran pada permukaan bahagian ujian melengkung juga tidak boleh dipercayai Probe akan mengubah bentuk spesimen salutan lembut, jadi tidak data yang boleh dipercayai boleh diukur pada spesimen ini; kekasaran permukaan logam asas dan salutan mempunyai kesan ke atas pengukuran. Apabila kekasaran meningkat, impak meningkat, dan permukaan kasar akan menyebabkan ralat sistematik dan ralat tidak sengaja. Apabila mengukur setiap kali, bilangan ukuran perlu ditambah pada kedudukan yang berbeza untuk mengatasi ralat tidak sengaja ini. Jika logam asas pada substrat adalah kasar, ia perlu mengambil beberapa kedudukan pada kepingan ujian logam asas yang tidak bersalut dengan kekasaran yang sama untuk menentukur titik sifar instrumen, atau menggunakan larutan yang tidak menghakis logam asas untuk melarutkan dan keluarkan salutan, dan kemudian tentukur instrumen Titik sifar; medan magnet yang kuat yang dihasilkan oleh pelbagai peralatan elektrik di sekeliling akan mengganggu kerja pengukuran ketebalan magnet dengan serius; bahan melekat yang menghalang probe daripada bersentuhan rapat dengan permukaan salutan mesti dikeluarkan. Semasa pengukuran, tekanan mesti dikekalkan malar. Hanya apabila permukaan bahagian disimpan menegak boleh pengukuran yang tepat dicapai.
