Apakah prinsip optik yang digunakan dalam mikroskop metalografi?
Mikroskop metalografik digunakan untuk mengenal pasti dan menganalisis struktur dalaman pelbagai logam dan aloi. Ia merupakan instrumen penting untuk mengkaji metalografi dan peralatan utama bagi sektor perindustrian untuk mengenal pasti kualiti produk. Ia digunakan terutamanya untuk mengenal pasti dan menganalisis pelbagai logam dan aloi. struktur organisasi. Prinsip optik yang digunakan dalam mikroskop metalografi terutamanya dibahagikan kepada medan terang dan medan gelap.
Ciri-ciri utama medan terang adalah berdasarkan warna dan ketransmisian spesimen. Spesimen biasanya perlu dicelup untuk memudahkan pemerhatian. Sudah tentu, menyempitkan apertur atau kondenser atas dan bawah juga boleh digunakan. Brightfield adalah asas untuk mikroskop optik lain.
Medan gelap ialah kaedah yang direka berdasarkan prinsip kesan Tyndall untuk memerhati objek pengesanan di bawah keadaan latar belakang gelap. Dalam keadaan biasa, orang tidak dapat melihat habuk dalam rumah. Ini kerana zarah habuk terdedah kepada cahaya langsung dan pembelauan yang kuat. gangguan. Tetapi jika anda membiarkan cahaya melalui tingkap dalam keadaan dalaman yang gelap, ia akan mudah dilihat. Ini kerana apabila cahaya dipantulkan atau dibelaukan, zarah-zarah habuk kelihatan semakin besar. Medan gelap adalah kanta yang menggunakan kaedah khas untuk menghalang cahaya langsung daripada memasuki kanta objektif. Sebaliknya, cahaya langsung mula-mula melalui pemeluwap medan gelap dan kemudian menukar laluannya supaya ia memasuki objek yang diukur secara serong. Permukaan memantulkan atau membelah cahaya ke dalam kanta objektif untuk membentuk cetakan pada objek. Imej terang pada latar belakang gelap.
Arahan untuk menggunakan mikroskop metalografi:
1) Mula-mula, palamkan palam sumber cahaya mikroskop ke dalam pengubah dan sambungkan bekalan kuasa melalui pengubah voltan rendah (6~8v).
2) Pilih kanta objektif dan kanta mata yang diperlukan mengikut pembesaran, pasangkannya pada pemegang kanta objektif dan dalam tiub kanta mata masing-masing, dan putar penukar ke kedudukan tetap.
3) Letakkan sampel di tengah peringkat sampel, letakkan permukaan pemerhatian ke bawah dan tekan dengan daun spring.
4) Putar roda tangan pelarasan kasar untuk menurunkan pentas terlebih dahulu, dan amati dengan mata anda pada masa yang sama, supaya kanta objektif sedekat mungkin dengan permukaan spesimen (tetapi jangan sentuhnya), kemudian pusingkan pelarasan kasar roda tangan ke arah yang bertentangan untuk menaikkan pentas secara beransur-ansur. Untuk melaraskan fokus, apabila kecerahan medan pandangan meningkat, gunakan roda tangan penalaan halus untuk melaraskan sehingga imej objek menjadi jelas.
5) Laraskan diafragma apertur dan diafragma medan dengan sesuai untuk mendapatkan imej objek kualiti terbaik.
