Prinsip kerja mikroskop elektron penghantaran
Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM) boleh memerhati struktur halus yang lebih kecil daripada {{0}}.2um yang tidak boleh dilihat dengan jelas di bawah mikroskop optik. Struktur ini dipanggil struktur submikroskopik atau ultrastruktur. Untuk melihat struktur ini dengan jelas, adalah perlu untuk memilih sumber cahaya panjang gelombang yang lebih pendek untuk meningkatkan resolusi mikroskop. Pada tahun 1932, Ruska mencipta mikroskop elektron penghantaran menggunakan pancaran elektron sebagai sumber cahaya. Panjang gelombang rasuk elektron adalah jauh lebih pendek daripada cahaya yang kelihatan dan ultraungu, dan panjang gelombang rasuk elektron adalah berkadar songsang dengan punca kuasa dua voltan rasuk elektron yang dipancarkan, bermakna semakin tinggi voltan, semakin pendek panjang gelombang. Pada masa ini, resolusi TEM boleh mencapai 0.2nm.
Prinsip kerja mikroskop elektron penghantaran ialah pancaran elektron yang dipancarkan oleh pistol elektron melalui pemeluwap di sepanjang paksi optik badan cermin dalam saluran vakum, dan menumpu kepada pancaran cahaya yang tajam, terang dan seragam melalui kondenser, yang disinari pada sampel di dalam ruang sampel; Rasuk elektron yang melalui sampel membawa maklumat struktur dalaman sampel. Jumlah elektron yang melalui bahagian tumpat sampel adalah kurang, manakala jumlah elektron yang melalui bahagian jarang adalah lebih; Selepas pemfokusan dan pembesaran primer melalui kanta objektif, pancaran elektron memasuki kanta perantaraan bawah dan cermin unjuran pertama dan kedua untuk pengimejan pembesaran komprehensif. Akhir sekali, imej elektron yang diperbesarkan ditayangkan ke skrin pendarfluor di dalam bilik pemerhatian; Skrin pendarfluor menukar imej elektronik kepada imej cahaya yang boleh dilihat untuk diperhatikan oleh pengguna. Bahagian ini akan memperkenalkan struktur dan prinsip utama setiap sistem secara berasingan.
