Pembesaran-Pemerhatian Berasaskan dengan Steremikroskop
Steremikroskop digunakan untuk pemeriksaan dan pemerhatian tiga dimensi-komponen elektronik, papan litar bersepadu, alat pemotong berputar, magnet, dsb. Bagaimana untuk menyesuaikan diri dengan keperluan berbeza ini berdasarkan fakta bahawa objek berbeza ini perlu diperhatikan pada pembesaran berbeza? Ia boleh diselesaikan melalui pelbagai aspek. a. Ia boleh dicapai melalui prestasi optik. b. Ia boleh dipilih untuk pemerhatian video. c. Ia boleh dicapai melalui prestasi mekanikal. d. Ia boleh diterangi oleh sumber cahaya
Prestasi optik: Berdasarkan keperluan pemerhatian objek yang diukur, kanta mata/objektif yang berbeza dipilih untuk menyelesaikan masalah seperti pembesaran tinggi dan medan pandangan yang besar. Apabila hanya pembesaran tinggi diperlukan, kanta mata pembesaran tinggi dan kanta objektif boleh diganti. Apabila medan pandangan yang besar diperlukan, kanta objektif boleh diganti untuk mengurangkan kanta kanta mata untuk memenuhi keperluan.
Pemerhatian video: Apabila pembesaran optik tidak mencukupi, pembesaran elektronik boleh digunakan sebagai pampasan. Apabila memerhati dan ingin menyimpan dan memelihara secara serentak, kita boleh memilih video. Terdapat pelbagai format video: A. Ia boleh diakses terus melalui monitor B. Ia boleh disambungkan ke komputer (melalui kad pemerolehan imej CCD digital atau analog CCD) C. Ia boleh disambungkan ke kamera digital (kamera digital yang berbeza perlu mempertimbangkan antara muka yang berbeza dan keserasian dengan mikroskop)
Prestasi mekanikal: Apabila menghadapi kimpalan, pemasangan, pemeriksaan papan litar bersepadu yang besar, dan keperluan untuk jarak kerja, kami boleh menyelesaikannya melalui prestasi mekanikal, seperti kurungan universal, kurungan rocker arm, platform mudah alih yang besar, dll. Dengan ciri prestasinya, kami boleh melengkapkan terus kerja pengesanan kami dengan menggunakan kurungan dan platform apabila mengesan objek besar. Tidak perlu mengalihkan objek yang diuji. Sebagai contoh, disebabkan saiz papan litar yang diuji yang besar dan keperluan untuk pemerhatian senget sedikit, adalah sukar bagi ABB untuk menggerakkan papan litar, dan kerja ujian hanya boleh diselesaikan melalui pergerakan mekanikal. Fungsi pendakap universal boleh memenuhi keperluan penggunaan ini secara serentak.
Pencahayaan sumber cahaya: Pencahayaan sumber cahaya memainkan peranan penting sama ada objek yang diukur boleh dilihat dengan jelas. Apabila memilih pencahayaan, adalah perlu untuk memilih alat pencahayaan dan kaedah pencahayaan yang sepadan berdasarkan ciri-ciri objek yang diukur itu sendiri (mengambil kira keperluannya untuk cahaya, seperti kuat / lemah / reflektif, dll.).
