Cara memilih osiloskop masa nyata untuk ujian dan analisis jitter
Dengan peningkatan ketara dalam kelajuan bas dalam sistem komputer dan komunikasi, terutamanya peningkatan populariti pelbagai bas bersiri berkelajuan tinggi menggunakan teknologi jam terbenam, jitter masa telah menjadi faktor asas yang mempengaruhi prestasi mereka. Artikel ini memberi tumpuan kepada cara memilih osiloskop masa nyata untuk ujian dan analisis jitter berdasarkan pelbagai alat dan kaedah ujian jitter semasa, dan membincangkan beberapa faktor utama dalam osiloskop yang mempengaruhi keputusan ujian jitter. Akhir sekali, kaedah rujukan dan contoh ujian disediakan untuk ujian jitter ketepatan tinggi.
Semakin banyak komputer dan sistem komunikasi berkelajuan tinggi mula menggunakan bas bersiri berkelajuan tinggi untuk menghantar data berkelajuan tinggi antara cip, pesawat belakang dan peranti sistem. Semasa proses penghantaran data bersiri, mana-mana jam berkelajuan tinggi kecil dan kegelisahan data akan memberi kesan yang besar kepada keseluruhan sistem. Dalam kes ini, jitter telah menjadi kunci kepada kejayaan atau kegagalan mereka bentuk sistem digital berkelajuan tinggi. Aplikasi yang paling tipikal ialah bas selari PCI tradisional 33M digantikan oleh PCI-Express menggunakan teknologi bersiri berkelajuan tinggi. Kadar data yang disokong oleh standard terkininya telah mencapai 5Gb/s, dan lebar UI hanyalah 200ps. Sebarang kegelisahan kecil akan Menyebabkan ralat penghantaran data. Spesifikasi margin pemasaan semasa untuk pelbagai bas bersiri berkelajuan tinggi dan pautan data menunjukkan bahawa kawalan jitter yang lebih ketat di seluruh sistem digital adalah satu kemestian. Hanya dengan menguji dan menganalisis kegelisahan secara menyeluruh dan berkesan, punca kegelisahannya boleh diasingkan, dengan itu mengurangkan kegelisahan dan meningkatkan prestasi dan kestabilan sistem berdasarkan punca kegelisahan sistem. PCI-Express, FBD, InfiniBand, SerialATA dan DVI semuanya mempunyai keperluan yang jelas untuk jitter jam dan data. Artikel ini membincangkan faktor utama yang mempengaruhi keputusan ujian jitter berdasarkan kaedah ujian jitter masa nyata yang dilakukan oleh osiloskop.
Kaedah ujian jitter biasa
Untuk berjaya mereka bentuk sistem digital berkelajuan tinggi, bukan sahaja perlu untuk memahami apa itu jitter dan mengira saiz jitter, tetapi juga untuk mengasingkan dan menguraikan komponen jitter yang berbeza dan menganalisis punca jitter, untuk mengelakkan kegagalan sistem yang disebabkan oleh jitter dalam sistem berkelajuan tinggi. . Sebelum memahami ujian jitter, bijak memilih alat dan kaedah ujian jitter yang sesuai menjadi langkah pertama dalam keseluruhan kerja ujian jitter. Pada masa ini terdapat beberapa alat ujian jitter untuk dipilih. Bit Error Tester (BERT) secara langsung menguji kadar ralat bit sistem, tetapi ia mahal dan mempunyai satu fungsi, yang tidak sesuai untuk pereka bentuk dan penyahpepijat. Terdapat juga fungsi menggunakan penganalisis selang masa untuk menguji jitter. Tunggal, terhad oleh keupayaan analisis jitter yang tidak mencukupi. Osiloskop digital berprestasi tinggi telah menjadi alat ujian jitter yang paling popular hari ini.
