Analisis Pelbagai Mikrostruktur Logam Di Bawah Mikroskop
Selama bertahun-tahun, pengamal metalografi telah secara kualitatif menerangkan ciri mikrostruktur bahan logam dengan memerhati permukaan digilap spesimen metalografi di bawah mikroskop, atau menilai struktur mikro, saiz butiran,-kemasukan bukan logam dan zarah fasa melalui perbandingan dengan pelbagai imej standard. Walau bagaimanapun, kaedah ini mempunyai objektiviti yang rendah, melibatkan subjektiviti yang ketara semasa penilaian, dan kebolehulangan keputusan adalah tidak memuaskan. Selain itu, semua pengukuran dilakukan pada satah dua-dimensi (2D) permukaan spesimen yang digilap, yang membawa kepada percanggahan tertentu antara keputusan yang diukur dan perihalan spatial tiga-dimensi (3D) sebenar bagi mikrostruktur. Kemunculan stereologi moden telah menyediakan kaedah saintifik untuk mengekstrapolasi daripada imej 2D kepada ruang 3D-khususnya, satu disiplin yang memautkan data yang diukur pada satah 2D kepada morfologi, saiz, kuantiti dan pengedaran struktur mikro teori 3D yang sebenar bagi bahan logam. Ia juga membolehkan penubuhan sambungan yang wujud antara morfologi spatial 3D, saiz, kuantiti, dan pengedaran struktur mikro bahan dan sifat mekanikalnya, menyediakan data analisis yang boleh dipercayai untuk penilaian saintifik bahan.
Oleh kerana struktur mikro,-kemasukan bukan logam dan komponen lain dalam bahan logam tidak diedarkan secara seragam, penentuan mana-mana parameter tidak boleh bergantung semata-mata pada pemerhatian satu atau beberapa medan pandangan di bawah mikroskop dengan mata kasar. Sebaliknya, pengiraan statistik yang mencukupi mesti dilakukan pada sejumlah besar medan pandangan untuk memastikan kebolehpercayaan hasil pengukuran. Jika penilaian visual dijalankan secara manual di bawah mikroskop, ketepatan, ketekalan dan kebolehulangan adalah lemah, dan kelajuan pengukuran sangat perlahan. Dalam sesetengah kes, beban kerja terlalu berat untuk diselesaikan. Penganalisis imej, yang menggantikan-pemerhatian mata kasar dan pengiraan manual dengan elektro-teknologi komputer dan komputer termaju, boleh dengan cepat dan tepat melakukan pengukuran dan pemprosesan data yang signifikan secara statistik. Mereka juga menawarkan ketepatan tinggi, kebolehulangan yang sangat baik, dan menghapuskan pengaruh faktor manusia pada hasil penilaian metalografik. Selain itu, ia mudah dikendalikan dan boleh mencetak laporan pengukuran secara langsung, menjadikannya alat yang amat diperlukan dalam analisis metalografi kuantitatif hari ini.
Penganalisis imej mikroskop ialah alat yang berkuasa untuk penyelidikan metalografi kuantitatif pada bahan dan pembantu yang sangat baik untuk pemeriksaan metalografi harian. Ia boleh mengelakkan ralat subjektif yang disebabkan oleh penilaian manual, dengan itu menghalang pertikaian. Walaupun tidak mungkin dan tidak perlu menggunakan penganalisis imej untuk setiap pemeriksaan metalografi harian, ia boleh digunakan untuk analisis kuantitatif apabila kualiti produk tidak normal atau apabila gred struktur metalografi berada di antara yang layak dan tidak layak (menjadikan sukar untuk menilai). Ini menghasilkan keputusan yang tepat dan memastikan kualiti produk. Aplikasi penganalisis imej dalam analisis metalografi telah meluaskan skop item pemeriksaan metalografi, menggalakkan peningkatan tahap pengesanan, dan juga sangat berfaedah untuk meningkatkan kecekapan profesional pemeriksa.
