Aplikasi Mikroskop Inframerah dalam Peranti Mikro dalam Industri Elektronik
1. Arah permohonan: peranan mikroskop inframerah dalam ujian suhu peranti semikonduktor kecil
2. Pengenalan latar belakang:
Dengan pembangunan nanoteknologi, kaedah pengecilan atas ke bawah telah digunakan lebih dan lebih dalam bidang teknologi semikonduktor. Kami biasa memanggil teknologi IC sebagai teknologi "mikroelektronik", kerana saiz transistor berada pada tahap mikron (10-6 meter). Walau bagaimanapun, teknologi semikonduktor berkembang sangat pantas. Setiap dua tahun, satu generasi akan dipertingkatkan, dan saiznya akan dikurangkan kepada separuh daripada saiz asal. Ini adalah Undang-undang Moore yang terkenal. Kira-kira 15 tahun yang lalu, semikonduktor mula memasuki era sub-mikron, yang lebih kecil daripada era mikron, dan kemudian pergi lebih dalam ke era sub-mikron, yang jauh lebih kecil daripada era mikron. Menjelang 2001, transistor lebih kecil daripada 0.1 mikron, atau 100 nanometer. Oleh itu, ia adalah era nanoelektronik, dan kebanyakan IC masa depan akan diperbuat daripada nanoteknologi.
3. Keperluan teknikal:
Pada masa ini, mod kegagalan utama peranti elektronik ialah kegagalan haba. Menurut statistik, 55 peratus daripada kegagalan peranti elektronik adalah disebabkan oleh suhu melebihi nilai yang ditetapkan. Apabila suhu meningkat, kadar kegagalan peranti elektronik meningkat secara eksponen. Secara umumnya, kebolehpercayaan kerja komponen elektronik sangat sensitif terhadap suhu, dan kebolehpercayaan akan menurun sebanyak 5 peratus setiap kali suhu peranti meningkat sebanyak 1 darjah pada tahap 70-80 darjah. Oleh itu, adalah perlu untuk mengesan suhu peranti dengan cepat dan boleh dipercayai. Apabila saiz peranti semikonduktor menjadi lebih kecil dan lebih kecil, keperluan yang lebih tinggi diletakkan pada resolusi suhu dan resolusi spatial peralatan pengesanan.
4. Peta haba penggambaran di tapak
