Aplikasi penganalisis imej mikroskop dalam analisis metalografi
Mengukur saiz butiran adalah item pemeriksaan yang kerap dilakukan dalam kerja pemeriksaan metalografik. Kaedah tradisional ialah merujuk kepada gambar standard dalam piawaian yang berkaitan (GB6394-2002) dan menilai tahap saiz butiran dengan membandingkan dengan gambar standard. Kaedah ini mudah dan cepat, tetapi ralat subjektif juga agak besar. Jika anda menggunakan dua kaedah lain yang dinyatakan dalam GB6394, iaitu kaedah kawasan dan kaedah titik pintasan (kaedah timbang tara), walaupun keputusan pengukuran yang tepat boleh diperolehi, kedua-dua kaedah ini sangat menyusahkan untuk digunakan dan membosankannya adalah menakutkan. Jika penganalisis imej digunakan untuk mengukur saiz butiran menggunakan kaedah titik pintasan, tahap saiz butiran boleh ditentukan secara langsung dan cepat.
Kaedah titik pintasan menentukan saiz butiran dengan mengira pintasan sempadan butiran pada grid pengukur panjang tertentu. Formula pengiraan indeks gred saiz butiran G ialah:
G＝-3.2877＋6.6439lg(M×N／L)
Dalam formula: L - panjang grid pengukur yang digunakan (mm)
M - pembesaran untuk pemerhatian
N - bilangan titik pintasan pada grid ukuran L
L dan M ialah nombor yang diketahui. Selagi N diukur, penganalisis imej boleh mendapatkan tahap saiz butiran. Semasa kerja pengukuran sebenar, disebabkan oleh pelbagai mendakan yang mungkin wujud di dalam butiran dan patah sempadan butiran yang disebabkan oleh kawalan kakisan yang tidak betul, ia membawa kesukaran tertentu kepada pengukuran yang tepat. Ia perlu menggunakan fungsi kakisan dan pengembangan dalam penganalisis imej untuk mengeluarkan butiran. Mendakan di dalam dan sempadan butiran dibina semula untuk mendapatkan imej butiran yang lengkap.
Parameter mengukur secara kuantitatif seperti peratusan struktur mikro dalam bahan logam dan mengkaji kesannya terhadap sifat mekanikal adalah salah satu kegunaan utama penganalisis imej dalam analisis metalografi. Contohnya: Tentukan peratusan ferit dan pearlit dalam besi tuang kelabu, besi mulur, keluli tuang dan keluli karbon rendah; peratusan martensit dan ferit dalam keluli dwi fasa; pengkarburan dan pelindapkejutan lapisan mengeras dan bola Oberit Kandungan sisa austenit dalam besi; kandungan eutektik fosforus dalam kasut brek fosforus tinggi; kandungan silikon eutektik dalam aloi aluminium tuang, kandungan fasa beta dalam aloi putih belukar, dsb. Tugas-tugas ini mudah dicapai menggunakan fungsi asas penganalisis imej. Jika analisis metalografi kuantitatif dilakukan pada struktur matriks yang berbeza bagi bahan tertentu dan dibandingkan dengan sifat mekanikalnya, korespondensi kuantitatif antara struktur mikro dan sifat mekanikal boleh dikaji dengan mendalam.
Oleh kerana kekasaran permukaan bahan asas di bawah salutan atau pengaruh proses penyaduran elektrik, salutan mempunyai ketebalan yang tidak sekata. Untuk menyelesaikan ralat pengukuran yang disebabkan oleh ketebalan yang tidak sekata, apabila penganalisis imej mengukur salutan, ia mula-mula memaparkan bentuk keratan rentas salutan. Lukis banyak garis lurus selari antara satu sama lain, berserenjang dengan permukaan salutan, dan merentasi salutan pada skrin, supaya setiap garis lurus boleh mengukur data ketebalan salutan, dan kemudian memproses data ini untuk mendapatkan ketebalan purata dan ketebalan maksimum salutan. salutan. , ketebalan minimum dan parameter lain. Jika objek yang hendak diukur ialah dawai logam yang sangat kecil dengan salutan pada lilitannya, kemudian ambil imej keratan rentasnya dan lukis banyak garis lurus di sepanjang arah jejari pada sudut yang berbeza dari pusatnya, dan ia juga boleh diukur.
Tentukan kedalaman lapisan ternyahkarbur dan lapisan terkarbur
Mula-mula, ukur kandungan ferit struktur matriks, dan kemudian lukis garis lurus boleh alih selari dengan permukaan pada skrin. Kira kandungan ferit yang melalui garis lurus. Apabila garis lurus bergerak ke arah pusat, apabila kandungan ferit dalam struktur matriks ditemui, Apabila kandungan pepejal sepadan dengan kawasan, jarak antara garis lurus dan permukaan adalah kedalaman lapisan dekarburisasi atau lapisan karburisasi.
