Struktur Sistem Mikroskopi Daya Atom (AFM).
1. Bahagian pengesanan daya:
Dalam sistem mikroskopi daya atom (AFM), daya yang akan dikesan ialah daya van der Waals antara atom. Jadi dalam sistem ini, julur digunakan untuk mengesan perubahan daya antara atom. Cantilever mikro ini mempunyai spesifikasi tertentu, seperti panjang, lebar, pekali keanjalan, dan bentuk hujung jarum, dan pemilihan spesifikasi ini adalah berdasarkan ciri-ciri sampel dan mod operasi yang berbeza, dan jenis probe yang berbeza dipilih.
2 Bahagian pengesanan kedudukan:
Dalam sistem mikroskopi daya atom (AFM), apabila terdapat interaksi antara hujung jarum dan sampel, julur julur akan berayun. Oleh itu, apabila laser disinari pada hujung julur, kedudukan cahaya yang dipantulkan juga akan berubah disebabkan oleh hayunan julur, mengakibatkan penjanaan offset. Dalam keseluruhan sistem, pengesan kedudukan titik laser digunakan untuk merekodkan offset dan menukarnya menjadi isyarat elektrik untuk pemprosesan isyarat oleh pengawal SPM.
3 Sistem maklum balas:
Dalam sistem mikroskop daya atom (AFM), selepas isyarat diambil oleh pengesan laser, ia digunakan sebagai isyarat maklum balas dalam sistem maklum balas sebagai isyarat pelarasan dalaman, dan memacu pengimbas yang biasanya diperbuat daripada tiub seramik piezoelektrik untuk bergerak. sewajarnya untuk mengekalkan daya yang sesuai antara sampel dan hujung jarum.
Mikroskopi daya atom (AFM) menggabungkan tiga bahagian di atas untuk membentangkan ciri permukaan sampel: dalam sistem AFM, julur kecil digunakan untuk merasakan interaksi antara hujung jarum dan sampel. Daya ini akan menyebabkan cantilever berayun, dan kemudian laser digunakan untuk menyinari hujung cantilever. Apabila ayunan terbentuk, kedudukan cahaya yang dipantulkan akan berubah, menyebabkan offset. Pada masa ini, pengesan laser akan merekodkan offset ini dan juga menyediakan sistem maklum balas dengan isyarat pada masa ini untuk memudahkan pelarasan sistem yang sesuai. Akhir sekali, ciri-ciri permukaan sampel akan dipersembahkan dalam bentuk imej.
