Prinsip Pengelasan dan Pengukuran Tolok Ketebalan Salutan
Dengan kemajuan teknologi yang semakin meningkat, terutamanya dalam beberapa tahun kebelakangan ini dengan pengenalan teknologi mikrokomputer, tolok ketebalan menggunakan kaedah arus magnet dan pusar telah membuat kemajuan selanjutnya ke arah pengecilan, kecerdasan, kepelbagaian fungsi, ketepatan tinggi, dan kepraktisan mengenai prinsip pengelasan dan pengukuran tolok ketebalan salutan. Resolusi pengukuran telah mencapai 0.1 mikron, dan ketepatan boleh mencapai 1%, yang telah bertambah baik. Ia mempunyai pelbagai aplikasi, julat pengukur yang luas, operasi yang mudah dan kos rendah, menjadikannya alat pengukur ketebalan yang digunakan secara meluas dalam industri dan penyelidikan saintifik. Penggunaan kaedah tidak-memusnahkan tidak merosakkan salutan atau substrat, dan mempunyai kelajuan pengesanan yang pantas, yang secara ekonomi boleh menjalankan sejumlah besar kerja ujian.
Pengukuran ketebalan salutan telah menjadi bahagian penting dalam industri pemprosesan dan pemeriksaan kualiti kejuruteraan permukaan, dan merupakan cara yang diperlukan untuk produk mencapai standard kualiti yang sangat baik. Untuk mengantarabangsakan produk kami, terdapat keperluan yang jelas untuk ketebalan salutan dalam barangan eksport China dan projek-asing yang berkaitan.
Kaedah pengukuran utama untuk ketebalan salutan termasuk kaedah pemotongan baji, kaedah pemotongan ringan, kaedah elektrolisis, kaedah pengukuran perbezaan ketebalan, kaedah penimbangan, kaedah pendarfluor sinar-X, kaedah serakan belakang sinar beta, kaedah kapasitansi, kaedah pengukuran magnetik dan kaedah pengukuran arus pusar. Lima kaedah pertama ini ialah pengesanan lossy, yang mempunyai kaedah pengukuran yang menyusahkan, kelajuan perlahan, dan kebanyakannya sesuai untuk pemeriksaan pensampelan.
Kaedah X-dan sinar beta ialah ukuran bukan-sentuh-tidak musnah, tetapi peralatannya rumit dan mahal serta julat ukurannya kecil. Disebabkan kehadiran sumber radioaktif, pengguna mesti mematuhi peraturan perlindungan sinaran. Kaedah X-boleh mengukur salutan yang sangat nipis, salutan berganda dan salutan aloi. Kaedah sinar beta sesuai untuk mengukur salutan dan substrat dengan nombor atom lebih daripada 3. Kaedah kemuatan hanya digunakan untuk mengukur ketebalan salutan penebat pada konduktor nipis.
Prinsip dan Instrumen Tolok Ketebalan Salutan: Klasifikasi dan Prinsip Pengukuran Tolok Ketebalan Salutan
