Klasifikasi dan struktur mikroskop membaca

Jul 08, 2025

Tinggalkan pesanan

Klasifikasi dan struktur mikroskop membaca

 

1. Mikroskop membaca bacaan langsung: Skala pada penguasa garis sebahagiannya diperbesar oleh lensa objektif dan dicatatkan pada plat pembahagi. Jika jarak garis adalah 1 milimeter, pembesaran adalah sama dengan jarak 100 bahagian pada plat pemisah, dan nilai pembahagian 0.01 milimeter boleh dibaca melalui kanta mata (pembesaran).


2. Menandai mikroskop bacaan mudah alih: Semasa pengukuran, putar roda tangan gerakan mikro untuk menyelaraskan garis terukir berganda pada plat pembahagi bergerak dengan imej garis penguasa garis. Baca persentil dan persentil dari drum bacaan atau mekanisme bacaan lain, dan baca decile dari plat pembahagi bergerak. Untuk mengelakkan haus pada benang ketepatan (atau mekanisme mikro lain) pada tangan gerakan mikro, beberapa mikroskop membuat garis terukir berganda pada plat pembahagi bergerak ke dalam garis lingkaran archimedean berganda (C dalam angka). Padang lingkaran Archimedean berganda adalah sama dengan 1/10 jarak garis penguasa yang didarab dengan pembesaran lensa objektif, dan terdapat 100 bahagian yang sama dibahagikan pada cincin dalamannya. Oleh itu, selepas menyelaraskan corak garis, dekil boleh dibaca dari plat pembahagi tetap, dan persentil dan seribu boleh dibaca dari plat pembahagi bergerak.


3. Mikroskop bacaan mudah alih imej: Elemen optik bergerak (seperti kaca selari satah, kaca baji, atau kanta pampasan) ditambah antara lensa objektif dan reticle. Apabila menggerakkan komponen optik sedemikian, imej garis penguasa garis akan bergerak. Selepas menyelaraskan imej garis dengan garisan terukir berganda pada plat pembahagi tetap, nilai -nilai deciles, persentiles, dan seribu boleh dibaca dari plat pembahagi tetap dan plat pembahagi bergerak masing -masing.


Prinsip membaca mikroskop
Pertama, lakukan pelarasan sifar dan laraskan kacang berputar untuk menyelaraskan garis penanda dengan garis skala penuh pada paksi x -. Kacang berputar dibahagikan kepada 50 grid, setiap grid adalah 0.01mm. Penandaan adalah pada lembaran kaca A, dan paksi x - pada lembaran kaca B. Selepas pelarasan sifar selesai, gunakan penguji kekerasan untuk membuat lekukan pada bahan kerja. Kekuatan F yang digunakan oleh penguji kekerasan dan diameter d bola keluli. Laraskan kacang berputar supaya kenalan yang disambungkan ke kacang menolak sekeping kaca A untuk bergerak ke arah paksi x -, dan ia adalah tangen kepada lekukan dua kali. Terdapat sambungan musim bunga di antara sekeping kaca A dan kenalan, yang boleh berkembang dan berkontrak dengan bebas. Jarak yang dilalui oleh garis penandaan boleh dibaca melalui mikroskop, iaitu diameter lekukan. Walau bagaimanapun, disebabkan oleh bentuk lekukan yang tidak teratur, bahan kerja perlu diputar 90 darjah dan diukur sekali lagi untuk mengambil nilai purata.
 

4 Microscope Camera

Hantar pertanyaan