Kaedah Pengukuran Biasa untuk Mikroskop Alat Universal
1. Kaedah tepi pisau dan kaedah pemotongan aci:
Kaedah tepi pisau dan kaedah pemotongan paksi adalah kaedah optik dan mekanikal yang terutamanya mengukur bahagian paksi benang. Kaedah ini juga boleh digunakan untuk mengukur spesimen silinder, kon, dan rata kerana ralat pelarasan adalah minimum dan tidak dipengaruhi oleh faktor luaran. Contohnya, tepi yang tidak rata, penutup chamfer dan faktor lain boleh memberi kesan. Syarat untuk menggunakan kaedah pengukuran ini ialah spesimen mestilah mempunyai permukaan pengukur yang licin dan lurus, dan pisau pengukur hendaklah diletakkan pada spesimen dengan tangan, bersentuhan dengan spesimen pada satah pengukur. Untuk bahagian bulat, satah ukuran ini adalah tangen kepada paksi putaran, dan garis nipis selari dengan tepi bilah mewakili bahagian paksi spesimen. Jajarkan garis rujukan kanta mata dengan garis nipis menggunakan ukuran sudut. Tepi bilah yang belum dipakai bersentuhan dengan paksi penjajaran bulu silang dalam bidang pandangan. Apabila mengukur, tidak perlu mengambil kira jarak dari garis nipis ke tepi bilah. Hanya apabila mengukur dengan bilah haus, ia diperlukan untuk menolak ralat bilah daripada nilai ukuran. Perlu diingatkan bahawa habuk dan sisa cecair pada permukaan pemeriksaan boleh menyebabkan ralat semasa memeriksa kedudukan bilah berdasarkan jurang cahaya. Ketinggian pad dan instrumen adalah pra dipadankan dan tidak boleh dilaraskan dengan salah. Ia perlu dibersihkan sebelum digunakan.
2. Kaedah bayangan:
Kaedah bayangan ialah kaedah optik tulen yang boleh melaraskan instrumen dengan cepat untuk menyelaraskan kontur spesimen dan membandingkan bentuknya. Kaedah pengukuran ini memerlukan spesimen diletakkan dalam laluan optik-bawah dan dalam julat jelas mikroskop penjajaran, untuk mendapatkan imej bayang-bayang spesimen. Imej bayang-bayang bahan kerja bulat ialah bayang-bayang kontur satah paksi, manakala imej bayang-bayang spesimen rata ditentukan oleh tepinya. Ukur dengan menggunakan kanta mata berputar dan kanta mata pengukur sudut, di mana garisan terukir pada kanta mata adalah tangen kepada bayang-bayang. Apabila membandingkan bentuk spesimen dengan bentuk lukisan sendiri, peranti unjuran boleh digunakan untuk memerhati dengan kedua-dua mata.
3. Kaedah refleksi:
Kaedah pantulan juga merupakan kaedah sentuhan optik. Ciri kaedah pantulan ialah ia boleh mengukur tepi dan tanda, seperti garisan, mata tebuk sampel, dsb. Kaedah ini juga boleh membandingkan bentuk menggunakan grafik garisan terukir bagi kanta mata berputar. Satah pengukuran ditentukan berdasarkan satah jelas mikroskop, dan kaedah pengukuran ini digunakan terutamanya untuk spesimen rata. Apabila mengukur garisan dan pukulan sampel, gunakan kanta mata pengukur sudut. Apabila mengukur tepi lubang, gunakan kanta mata imej dwi. Apabila membandingkan bentuk, gunakan kanta mata berputar.
4. Kaedah tuil mikrometer
Kaedah tuas mikrometer digunakan untuk mengukur permukaan yang tidak boleh diselaraskan dengan kaedah optik, seperti lubang, pelbagai permukaan melengkung dan permukaan heliks. Adalah penting untuk diperhatikan bahawa diameter kepala pengukur juga harus disertakan dalam keputusan pengukuran apabila bersentuhan dengan arah relatif atau permukaan melengkung. Untuk ukuran khas, adalah disyorkan untuk membuat rod sesentuh yang sesuai. Kepala pengukur sfera dengan diameter tertentu boleh digunakan untuk memeriksa lengkung bergolek, manakala kepala pengukur runcing digunakan untuk memeriksa permukaan heliks dalam permukaan pengukur tertentu. Kepala pengukur bentuk bilah digunakan untuk mengukur unjuran-keratan rentas dan lengkung spatial dengan hanya dua paksi koordinat.
