Kaedah pengukuran biasa untuk mikroskop perkakas tujuan am
1. Kaedah tepi pisau dan kaedah pemotongan paksi:
Kaedah tepi pisau dan kaedah potong paksi adalah kaedah optik dan mekanikal komprehensif yang terutamanya mengukur permukaan potong paksi benang. Kaedah ini juga boleh digunakan untuk mengukur spesimen silinder, kon dan rata kerana ralat pelarasan adalah sangat kecil dan tidak dipengaruhi oleh pengaruh luar. Contohnya: bahagian tepi tidak licin, talang menutupinya, dsb. Syarat untuk menggunakan kaedah pengukuran ini ialah bahagian ujian mesti mempunyai permukaan pengukur yang licin dan lurus, dan pisau pengukur dipegang pada bahagian ujian dengan tangan, dan ia menyentuh bahagian ujian pada satah pengukur. Untuk bahagian bulat, satah pengukur ini adalah tangen kepada paksi putaran, dan garisan nipis selari dengan tepi tepi pisau mewakili bahagian paksi spesimen. Sejajarkan garisan halus dengan retikel rujukan kanta mata ukuran sudut. Tepi tepi pisau yang belum dipakai bersentuhan dengan paksi penjajaran yang melalui garis silang dalam bidang pandangan. Jarak dari garis nipis ke tepi tepi pisau tidak perlu dipertimbangkan semasa mengukur. Hanya apabila mengukur dengan tepi pisau yang haus, ia diperlukan untuk menolak daripada nilai. Kesilapan mengeluarkan mata pisau. Apa yang perlu diperhatikan di sini ialah habuk dan sisa cecair pada permukaan pemeriksaan akan menyebabkan ralat apabila kedudukan tepi pisau diperiksa berdasarkan celah cahaya. Ketinggian maksimum plat belakang dan instrumen ditetapkan dan tidak boleh dilaraskan dengan salah. Ia mesti dibersihkan sebelum digunakan.
2. Kaedah bayangan:
Kaedah bayang-bayang ialah kaedah optik semata-mata yang boleh melaraskan instrumen dengan cepat untuk menyelaraskan profil spesimen dan membandingkan bentuk. Kaedah pengukuran ini memerlukan bahagian ujian diletakkan di laluan cahaya bawah ke atas dan dalam julat jelas mikroskop penjajaran, untuk mendapatkan imej bayang-bayang bahagian ujian. Imej bahan kerja bulat ialah bayang bayang sepanjang satah paksi, manakala imej bayang-bayang spesimen rata ditentukan oleh tepinya. Retik pada kanta mata berputar dan kanta ukur sudut digunakan untuk mengukur tangen kepada bayang-bayang. Apabila membandingkan bentuk bahagian ujian dengan rajah yang dilukis sendiri, anda boleh menggunakan peranti unjuran dan pemerhatian binokular.
3. Kaedah refleksi:
Kaedah pantulan juga merupakan kaedah sentuhan optik. Ciri-ciri kaedah pantulan ialah ia boleh mengukur tepi dan tanda, seperti mencoret, menumbuk, dan lain-lain. Kaedah ini juga boleh menggunakan corak ukiran kanta mata berputar untuk membandingkan bentuk. Tentukan satah penyukat mengikut satah jelas mikroskop. Kaedah pengukuran ini digunakan terutamanya untuk spesimen rata. Gunakan kanta mata pengukur sudut apabila mengukur garisan juru tulis dan lubang tebuk, gunakan kanta mata imej dwi apabila mengukur tepi lubang, dan gunakan kanta mata berputar apabila membandingkan bentuk.
4. Kaedah tuil mikrometrik
Kaedah tuil mikrometrik digunakan untuk mengukur permukaan yang tidak boleh diselaraskan dengan kaedah optik untuk pengukuran, seperti lubang, pelbagai permukaan melengkung dan permukaan lingkaran. Perhatian khusus harus diberikan di sini bahawa diameter kepala pengukur apabila menyentuh atau menyentuh permukaan melengkung dalam arah yang bertentangan juga mesti disertakan dalam pengukuran. dalam keputusan. Untuk pengukuran khas adalah disyorkan untuk membuat sendiri rod sesentuh yang sesuai. Kepala pengukur sfera dengan diameter tertentu boleh digunakan untuk menguji lengkung bergolek, dan kepala pengukur runcing boleh digunakan untuk menguji permukaan lingkaran dalam satah pengukur tertentu. Kepala pengukur tepi pisau digunakan untuk mengukur unjuran satah potong dan lengkung spatial dengan hanya dua paksi koordinat.
