Perbezaan Antara Mikroskop Konfokal dan Mikroskop Pendarfluor
Mikroskopi pendarfluor digunakan terutamanya dalam bidang biologi dan penyelidikan perubatan, yang boleh mendapatkan imej pendarfluor struktur mikro dalaman sel atau tisu. Ia boleh memerhati isyarat fisiologi seperti Ca2+, nilai pH, potensi membran dan perubahan dalam morfologi sel pada peringkat subselular. Ia merupakan alat penyelidikan yang berkuasa dalam bidang morfologi, biologi molekul, neurosains, farmakologi, genetik dan banyak lagi.
Mikroskop confocal berasaskan teknologi confocal ialah instrumen pengesanan yang digunakan untuk pengukuran tahap nano mikro pelbagai peranti ketepatan dan permukaan bahan.
Mikroskop pengimbasan confocal laser VT6000
Matlamat sains bahan adalah untuk mengkaji pengaruh struktur permukaan bahan terhadap sifat permukaannya. Oleh itu, analisis morfologi permukaan beresolusi tinggi adalah sangat penting untuk menentukan parameter yang berkaitan seperti kekasaran permukaan, ciri reflektif, sifat tribologi dan kualiti permukaan. Teknologi konfokal boleh mengukur pelbagai ciri pantulan permukaan bahan dan mendapatkan data pengukuran yang berkesan.
Mikroskop pengimbasan confocal laser VT6000 adalah berdasarkan teknologi mikroskopi confocal, digabungkan dengan modul pengimbasan arah Z ketepatan, algoritma pemodelan 3D, dll. Ia boleh melakukan pengimbasan tanpa sentuhan permukaan peranti dan mewujudkan imej 3D permukaan, mencapai pengukuran 3D morfologi permukaan peranti. Dalam bidang ujian pengeluaran bahan, adalah mungkin untuk mengukur dan menganalisis ciri-ciri morfologi permukaan pelbagai produk, komponen, dan bahan, seperti kontur permukaan, kecacatan permukaan, haus, kakisan, kerataan, kekasaran, bergelombang, jurang liang, ketinggian langkah, ubah bentuk lenturan, dan keadaan pemprosesan.
Mikroskop confocal VT6000 dari Zhongtu Instrument telah dilancarkan secara rasmi! Imej ukuran 3D mempunyai butiran morfologi yang lebih jelas!
permohonan
1.MEMS
Pengukuran dimensi untuk komponen aras mikrometer dan submikron, pemerhatian morfologi permukaan selepas pelbagai proses (pembangunan, etsa, metalisasi, CVD, PVD, CMP, dll.), dan analisis kecacatan.
2. Komponen mekanikal ketepatan, peranti elektronik
Pengukuran dimensi bagi komponen aras mikrometer dan submikron, pemerhatian morfologi permukaan selepas pelbagai proses rawatan permukaan dan proses kimpalan, analisis kecacatan, dan analisis zarah.
3. Semikonduktor/LCD
Pemerhatian morfologi permukaan selepas pelbagai proses (pembangunan, etsa, metalisasi, CVD, PVD, CMP, dll.), analisis kecacatan, pengukuran lebar talian bukan sentuhan, kedalaman langkah, dsb.
4. Geseran, kakisan dan kejuruteraan permukaan lain
Pengukuran isipadu tanda lelasan, ukuran kekasaran, morfologi permukaan, kakisan, dan morfologi permukaan selepas kejuruteraan permukaan sub mikron.
