Perbezaan penggunaan antara mikroskop metallographic yang tegak dan terbalik
Perbezaan antara tegak dan terbalik adalah bahawa sampel tegak diletakkan di bawah dan sampel terbalik diletakkan di atas. Kanta objektif tegak menghadap ke bawah, dan lensa objektif terbalik menghadap ke atas.
Mikroskop metallographic terbalik biasanya digunakan di makmal kilang, institusi penyelidikan saintifik, dan universiti kerana permukaan pemerhatian sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja, dan objektif pemerhatian terletak di bawah meja kerja sambil mengamati ke atas. Borang pemerhatian ini tidak terhad oleh ketinggian sampel, dan hanya satu permukaan pemerhatian yang rata apabila menyediakan sampel. Pangkalan mikroskop metallographic terbalik mempunyai kawasan sokongan yang besar, pusat graviti yang rendah, dan stabil dan boleh dipercayai. Lapisan mata dan permukaan sokongan condong pada 45 darjah untuk pemerhatian yang selesa.
Mikroskop metallographic tegak mempunyai fungsi asas yang sama seperti mikroskop metallographic terbalik. Sebagai tambahan untuk menganalisis dan mengenal pasti sampel logam dengan ketinggian 20-30 mm, ia lebih banyak digunakan untuk bahan telus, separuh telus atau legap kerana ia mematuhi tabiat harian manusia. Mikroskop metallographic tegak menghasilkan imej positif semasa pemerhatian, yang sangat memudahkan pemerhatian dan pengenalan pengguna. Selain menganalisis dan mengenal pasti sampel logam dengan ketinggian 20-30 mm, memerhatikan sasaran yang lebih besar daripada 3 mikron dan lebih kecil daripada 20 mikron, seperti seramik logam, cip elektronik, litar bercetak, substrat LCD, filem, serat, objek granular,
