Penubuhan projek penentukuran untuk mikroskop metalografi
(1) Pasang kanta objektif, letakkan 0.01mm mikrometer standard pada meja kerja dan tekannya dengan ketat; Putar tombol fokus untuk melaraskan fokus ke tengah mikrometer, dengan pengimejan yang jelas di tengah medan pandangan. Pada masa ini, hubungi kepala tolok dail dengan permukaan meja kerja dan selaraskannya dengan kedudukan sifar meter;
Putar sekali lagi untuk memfokus dan laraskan fokus ke tepi mikrometer, menjadikan medan pandangan pengimejan tepi jelas.
Memerhatikan tolok dail, ofset maksimumnya ialah ralat kelengkungan medan kanta objektif, dan objektif lain ditentukur dengan sewajarnya. Penunjuk bagi ralat kelengkungan medan kanta objektif adalah seperti berikut: 10X<0.2mm, 25X<0.1mm, 40X<0.07mm, 63X<0.065mm, 100X<0.04mm
(2) Ketepatan pembesaran objektif: Pasang kanta mata standard 10X dan objektif yang diuji, letakkan mikrometer standard 0.01mm di atas meja kerja dan tekan dengan kuat. Apabila memerhati, mikrometer harus sepadan dengan reticle dalam kanta mata, dan ukuran mengimbanginya ialah ralat dalam pembesaran. Kanta objektif lain ditentukur menggunakan kaedah ini, dengan ralat tidak melebihi 5%
(3) Ketepatan reticle kanta mata: Putar kanta kanta mata dengan reticle, letakkan reticle pada meja kerja paparan universal, dan laraskan panjang fokus; Laraskan meja kerja supaya garisan mendatar plat pembahagi selari dengan lejang rel panduan membujur paparan universal dan sejajar dengan kedudukan sifar. Ukur setiap 20 grid sehingga grid ke-100, dan ralat tidak boleh melebihi 5um
(4) Julat pengimejan yang jelas bagi kanta objektif dicapai dengan memfokuskan mikrometer atau sampel metalografi dengan kanta objektif yang diuji dan kanta mata 10X untuk memastikan pengimejan yang jelas. Apabila imej tengah medan pandangan jelas, ralat dalam julat kejelasan pengimejan yang diukur dalam medan pandangan hendaklah tidak kurang daripada 60%
(5) Pasang 10X kanta mata instrumen yang diuji pada nilai grid setiap kanta objektif berbanding kanta mata, dan letakkan 0.01mm mikrometer piawai (adalah disyorkan untuk menggunakan rawak mikrometer 0.01mm) pada meja kerja dan tekan dengan ketat;
Laraskan paksi skala mikrometer agar selari dengan paksi retikel kanta mata instrumen, dan baca bilangan n garis skala mikrometer yang termasuk dalam garisan retikel i retikel kanta mata. Nilai grid relatif bagi kanta objektif kepada kanta mata ialah C{{0}}n/i * 0.01mm. Nilai grid objektif lain ditentukur dengan sewajarnya.
