Prosedur Fabrikasi Bahagian Nipis untuk Mikroskop Polarisasi
Proses Penyediaan Bahagian Nipis untuk Mikroskop Polarisasi
Apabila memerhati di bawah mikroskop polarisasi, spesimen perlu dibuat menjadi bahagian nipis yang layak atau bahagian yang digilap, secara kolektif dirujuk sebagai bahagian nipis. Prosedur penyediaan adalah seperti berikut:
(1) Persampelan: Pilih kawasan yang mewakili sampel mengikut keperluan pemerhatian dan analisis, potong kepada kiub 10×10×10 mm, dan bersihkan dengan teliti.
(2) Pemasangan atau pasu: Sampel bersaiz kecil memerlukan pemasangan. Sampel dengan struktur berliang atau longgar hendaklah diresapi terlebih dahulu.
(3) Pengisaran kasar: Letakkan bahagian sampel yang lebih rata pada mesin pengisar, kisar permukaan dengan serbuk pelelas kasar untuk memangkas profil dan keluarkan tepi dan bucu yang tajam.
(4) Pengisaran halus: Kisar dengan serbuk pelelas halus sehingga semua tanda yang ditinggalkan oleh pengisaran kasar dihapuskan.
(5) Pra-menggilap: Gunakan serbuk pelelas yang lebih halus untuk mengisar sehingga permukaan menjadi rata. Pantulan cahaya samar boleh diperhatikan pada permukaan di bawah cahaya terang.
(6) Menggilap: Letakkan spesimen pada mesin penggilap, tambah kompaun penggilap (serbuk penggilap) untuk menggilap sehingga permukaan spesimen
terang dan tiada calar yang jelas kelihatan di bawah mikroskop cahaya pantulan.
(7) Pelabelan: Nomborkan spesimen tanah dan lampirkan label untuk menyatakan sumber dan nama mereka.
(8) Goresan: Pilih kaedah dan keadaan goresan yang sesuai untuk mengetsa spesimen mengikut keperluan pemerhatian dan analisis.
Jika analisis struktur mikro perlu dilakukan di bawah kedua-dua cahaya yang dipancarkan dan yang dipantulkan, spesimen hendaklah dibuat ke dalam bahagian nipis atau pun bahagian ultra-nipis (<0.02 mm). For thin section preparation, first grind the specimen into a 0.03 mm-thick slice without covering it with a coverslip. Then polish the pre-ground slice surface on a polishing machine to complete the thin section.
